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第二代高温超导体微连接第3部分：接头试验方法

1范围

本文件规定了第二代高温超导体微连接接头的试验方法，包括目视检测、四点探针试验、磁场衰减

试验、内磁场试验、拉伸试验、弯曲试验、临界磁场试验、临界电流密度分布试验、显微镜法和X射线

衍射法等试验要求。

本文件适用于第二代高温超导体微连接接头。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T19866—2005焊接工艺规程及评定的一般原则（GB/T19866—2005，ISO15607:2003，IDT）

GB/TXXXXX.1—202X第二代高温超导体微连接第1部分:一般要求（GB/TXXXXX.1—202X，ISO

17279-1，MOD）

3术语和定义

GB/T19866、GB/TXXXXX.1界定的术语和定义适用于本文件。

4接头试验方法

一般要求

GB/TXXXXX.1—202X中4.5.4、4.5.5规定了试验及检验人员的技能评定、试验方法、试验和复试过

程的见证等要求。特别是GB/TXXXXX.1—202X表1所列的试验项目、试验数量、试验目的以及根据GB/T

XXXXX.1工艺评定要求所需的试验。GB/TXXXXX.1—202X中4.9规定了试验的验收标准。制造商能够为试

验和试验设备的操作配置足够的资质合格人员，也能够将具体的试验委托给专门机构。根据制造商的质

量保证要求，制造商能见证从试样制备到数据采集和分析的所有试验。

按照本文件进行试验时，应使用试验设备的操作规程和注意事项。特定设备的操作人员应具备所需

试验的操作能力，试验设备的校准和确认应当根据适当的质量管理计划，保持最新状态。评定记录和证

书也应保持在最新状态。

除目视检测外，这些试验应在低温环境中进行，设计试验的人员有责任在使用前建立适当的安全和

健康措施，并不旨在解决与其使用相关的安全问题，。

目视检测

4.2.1一般要求

本条规定了2GHTS中使用的材料和接头的目视检测方法。

4.2.2试验人员资质

1

试验应由有资质的人员进行。试验人员的技能评定应按照适当的质量管理计划进行。进行目视检测

的人员应每年通过一次视力检查，无论是否矫正，在不小于30.5cm距离上通过耶格J2级近视检查以及颜

色感知检查。视力检查记录应保存在本年度，并可供查阅。

4.2.3试验设备

应使用校准过的仪器进行试验。

4.2.4表面处理及制备

试验表面应均匀、光滑，且干净、无污垢、锈蚀、油渍、油脂、有害氧化物或其他有害异物，如2GHTS

中的Ag或Cu斑点。已连接接头的表面应适合进行相应的试验。所有接头制备应符合图纸规定的尺寸(无论

是通过图纸上的尺寸或焊接工艺规程提供)。如果图纸或订货文件中没有提供任何尺寸，则其尺寸应符合

已认可的焊接工艺规程(WPS)所规定的尺寸。

4.2.5试验

试验应按照适用的书面程序或方法进行。试验区域应包括接头和母材上与接头边缘相邻一段距离的

热影响区（HAZ）。试验应在连接和最终热处理（氧化退火）或其他要求之后进行，并去除所有涂层和

其他表面处理，如涂层、镀层等。接头应在焊接条件下进行试验。试验需采用合适的试样尺寸。

应采用直接目视检测。如需要，可以使用镜子和放大镜来改善视角和辅助检测。表面的最低光强度

为1000lx。书面程序或方法中至少应包括直接引用或参考适用的文件、程序标识编号和日期、修订编号、

接头标识、完整的试验要求，包括照明和试验方法、评估指标、验收标准、评估后接头的处理。

4.2.6验收标准

应满足GB/TXXXXX.1—202X中表4的要求。不允许有未接合、未熔合、裂纹和针状气孔。

4.2.7试验报告

试验完成后，应将结果录入试验报告中。试验报告的推荐格式见附录A。

四点探针试验

4.3.1一般原则

本条规定了利用四点探针试验测定2GHTS中母材和接头临界电流(Ic)、临界电流密度（Jc）和n值的方

法。

注：一般情况下的接触点电阻（接触电阻）远小于试样的电阻，因此可以忽略。然而，对于低温条件下