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一款汽车电子用MCU失效分析与对策.pdf

电子与封装

第25卷，第4期总第264期

Vol.25,No.4ELECTRONICSPACKAGING2025年4月

产品用

一款汽车电子用MCU失效分析与对策

王彬12，赵志林12，郭晶1.2

（1.智能汽车安全技术全国重点实验室，江苏无锡214072；2.中科芯集成电路有限公司，江苏无锡214072）

摘要：某车载电动尾门系统运行过程中，控制器直流电机运动时线缆产生的电磁辐射干扰到MCU

芯片时钟路径，进一步引发内核Hardfault总线错误，导致运行故障，尾门无法到达指定位置。以

MCU内核Hardfault异常为顶层事件建立故障树进行失效分析，成功定位了干扰源为直流电机线缆，

干扰传播路径为空间辐射，干扰对象为MCU时钟路径，并通过故障场景复现验证了分析结果的正确

性。最后从软、硬件角度提出了整改方法，对于电机运动控制系统的MCU失效分析与预防具有一定

的参考借鉴价值。

关键词：MCU；Hardfault；电磁辐射；故障树分析；直流电机

中图分类号：TN406；TP368.1；U463.61文献标志码：A文章编号：1681-1070（2025）04-040502

D0I:10.16257/ki.1681-1070.2025.0045

中文引用格式：王彬，赵志林，郭晶.一款汽车电子用MCU失效分析与对策[].电子与封装，2025，25（4)：

040502.

英文引用格式：WANGBin,ZHAOZhilin,GUOJing.FailureanalysisandcountermeasuresofanMCUforautomotive

electronics[J].ElectronicsPackaging,2025,25(4):040502.

FailureAnalysisandCountermeasuresofanMCUforAutomotiveElectronics

WANGBin2,ZHAOZhilin2,GUOJingl2

(1.StateKeyLaboratoryofIntelligentVehicleSafetyTechnology,Wuxi214072,China,

2.ChinaKeySystemIntegratedCircuitCo.,Ltd.,Wuxi214072,China)

Abstract:Duringtheoperationofavehicle-mountedelectrictailgatesystem,theelectromagneticradiation

generatedbythecablewhentheDCmotorofthecontrollermovesinterfereswiththeclockpathoftheMCU

chip,furthercausingaHardfaultbuserrorinthecore,resultinginoperationalfailureandinabilityofthe

tailgatetoreachthedesignatedposition.AfaulttreewasestablishedbasedontheHardfaultanomalyofthe

MCUcoreasthetop-leveleventforfailureanalysis.Theinterferencesourcewassuccessfullylocatedasthe