2025年扫描探针显微镜的应用.pdfVIP

百川东到海，何时复西归?少壮不努力，老大徒伤悲。——汉乐府

扫描探针显微镜的应用

根据扫描探针显微镜的种类及特性,可以了解到它的应用范围十分广泛。可

以研究材料表而的硬度、摩擦力、粘滞力、弹性等力学性能;研究原子与分子形

貌,材料表面的形貌、粗糙度以及各种缺陷;可以测量材料的电、磁特性以及热传

导性特性;可应用在生命科学方面,还可以进行纳米测量、纳米刻蚀与加工。

1：在有机薄膜材料方面的应用

扫描随道显微镜与原子力显微镜都可以对样品的形貌进行表征,可以观察到

有机薄膜分子的排列情况,但是扫描隧道显微镜需要样品制备在导电越底匕而有

机薄膜自身并不导电,当薄膜比较厚时,会阻碍系统对隧道电流的探测。对于原子

力显微镜则不存在这一限制,有机薄膜可以制备在比较平的云母或硅片上,而且

同样可以获得较高分辨率的图像,图1中所示的是在银基底上制备的苝四甲酸二

酐单分子膜的原子力形貌图,扫描时工作在非接触区域,采用的是调频模式,图像

分辨率达到了分子级别。从分子尺寸的AFM形貌图上我们可以很清楚的观测到分

子间距,依此判断出有机薄膜的致密性。在大范围(微米量级)从整体上观察薄膜

均匀性时,原子力显微镜也比较方便。

图1苝四甲酸二酐单分子膜的原子力形貌图,扫描范围30nmX30nm

由于有机薄膜的质地比较软,因此在用接触模式扫描时,会因侧向力过大对薄

膜造成划伤,因此常常采用轻敲模式进行扫描。但是我们常常需要通过接触模式

吾日三省乎吾身。为人谋而不忠乎?与朋友交而不信乎?传不习乎?——《论语》

下的力曲线测试,对有机薄膜自身的一些力学特性先有一定的了解,比如弹性、粘

滞力等,因为这些有机薄膜自身固有的特性也会影响到扫描成像,之后在通过扫

描过程中合理化相应的参数,获得高质量的图像。

2：DPN纳米加工技术

Mirkin小组发明了一种成为“dip-pen”的纳米加工技术(图2),AFM针尖被

当作“笔”,硫醇分子被当作“墨水”,而基底被当作“纸”,吸附在针尖上的硫

醇分子借助于针尖和基底之间的水层被转移到基底上的特定区域。然而,这种

DPN存在一个明显的缺点就是只能把有机分子“写”在基底上,而且保持所生成

结构的长期稳定性是一个重要问题。

图2DPN操作示意图(A)和DPN所形成的ODT阵列的侧向力图(B)

太上有立德，其次有立功，其次有立言，虽久不废，此谓不朽。——《左传》

后来,Li等发明了电化学AFM“dip-pen”的纳米加工技术(简称为E-DPN),

针尖与基底间的水层被作为溶有金属盐的电化学池,通过加以一定大小的直流电

压让金属盐在该电化学池中被还原,随后还原产物沉积到基底上(图3),和前者

比较优越性在于:一方面提高了结构的热稳定性和多样性;另一方面是能够以更

高的位置及形状可控性加工金属、半导体纳米结构。Benjamin等把表面诱导的

金属离子还原与DPN结合起来,在无外加电压的情况下,把用作“墨水”的AuCl-4

直接还原在基底上。Albena等第一次实现了半导体表面的DPN技术,从而表明了

DPN还能够直接用于SiSiOx和GaAs等半导体表面的有机结构的纳米加工。DPN

还能与化学刻蚀相结合实现对硅的加工。Hong等报道了有8支“毛”的可并行

“书写”的DPN,并且得出结论:在不添加额外的反馈系统的情况下还可用更多的

“笔”进行“书写”,这就使得大规模的纳米加工成为可能。Wilson等用胶原质

做“墨