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(新)电力设备红外测温课件(3篇)

第一篇：电力设备红外测温基础

一、红外测温技术概述

1.红外辐射的基本原理

红外辐射是一种电磁波，其波长范围在0.76μm-1000μm之间。所有高于绝对零度（-273.15℃）的物体都会向外辐射红外线，物体的温度越高，其辐射的红外线能量就越强。这是红外测温技术的物理基础。根据普朗克定律，黑体在一定温度下的光谱辐射出射度与波长和温度有关，其公式为：$M_{\lambda}(T)=\frac{2\pihc^{2}}{\lambda^{5}(e^{\frac{hc}{\lambdakT}}-1)}$，其中$M_{\lambda}(T)$是波长为$\lambda$、温度为$T$时的光谱辐射出射度，$h$是普朗克常数，$c$是光速，$k$是玻尔兹曼常数。通过测量物体辐射的红外线能量，就可以推算出物体的温度。

2.红外测温的优点

与传统的接触式测温方法相比，红外测温具有诸多优点。首先，它是非接触式测量，不会干扰被测物体的温度场，适用于测量高速运动、带电或高温的物体。例如，在电力系统中，对于高压开关柜内的带电设备，使用红外测温可以在不接触设备的情况下准确测量其温度，避免了触电等安全风险。其次，红外测温响应速度快，能够在短时间内测量物体的温度，可用于实时监测。此外，它的测量范围广，可以测量从-20℃到3000℃甚至更高温度的物体。

3.红外测温在电力系统中的应用意义

在电力系统中，设备的温度是反映其运行状态的重要参数之一。许多电力设备故障往往伴随着温度的异常变化，如电气连接部位松动会导致接触电阻增大，从而使该部位温度升高；设备内部绝缘老化也可能引起局部过热。通过红外测温技术，可以及时发现这些设备的温度异常，提前诊断设备故障，避免设备损坏和停电事故的发生，提高电力系统的可靠性和安全性。

二、电力设备发热原因分析

1.电阻损耗发热

根据焦耳定律$Q=I^{2}Rt$，当电流$I$通过电阻$R$时，会产生热量$Q$。在电力设备中，导体的电阻是不可避免的，电流通过导体时就会因电阻损耗而发热。例如，输电线路中的导线、变压器的绕组等都会产生电阻损耗发热。如果导体的连接部位接触不良，接触电阻会显著增大，导致该部位的发热加剧。以一个额定电流为100A的电气连接部位为例，正常接触电阻为0.001Ω时，其功率损耗为$P=I^{2}R=100^{2}×0.001=100W$；若接触电阻因松动等原因增大到0.01Ω，则功率损耗变为$P=100^{2}×0.01=1000W$，发热量大幅增加。

2.铁磁损耗发热

在交流电力系统中，铁磁材料（如变压器的铁芯、电机的磁路等）会在交变磁场的作用下产生铁磁损耗，包括磁滞损耗和涡流损耗。磁滞损耗是由于铁磁材料在交变磁场中反复磁化时，磁畴的取向不断改变而产生的能量损耗；涡流损耗是由于交变磁场在铁磁材料中感应出涡流，涡流在材料的电阻上产生的热损耗。铁磁损耗与磁场强度、频率、材料的性质等因素有关。例如，变压器铁芯的硅钢片厚度越薄，涡流损耗就越小。

3.介质损耗发热

对于电力设备中的绝缘介质（如电容器的绝缘介质、电缆的绝缘层等），在交流电压的作用下会产生介质损耗。介质损耗是由于绝缘介质在交变电场中发生极化和松弛过程，分子间的摩擦产生热量。介质损耗的大小与介质的介电常数、损耗角正切值、电压和频率等因素有关。当绝缘介质受潮、老化或存在缺陷时，介质损耗会显著增大，导致设备局部过热。

三、红外热像仪的工作原理与结构

1.工作原理

红外热像仪是一种将物体的红外辐射转换为可见图像的设备。它主要由光学系统、红外探测器、信号处理电路和显示装置等部分组成。光学系统将被测物体的红外辐射聚焦到红外探测器上，红外探测器将红外辐射转换为电信号，信号处理电路对电信号进行放大、滤波、校正等处理，最后将处理后的信号转换为数字图像显示在显示装置上。红外探测器是红外热像仪的核心部件，常见的有热探测器和光子探测器。热探测器是利用红外辐射的热效应来工作的，如热电偶探测器、热释电探测器等；光子探测器是利用半导体材料的光电效应来工作的，如碲镉汞探测器、锑化铟探测器等。

2.结构组成

（1）光学系统：包括物镜、目镜等，其作用是收集和聚焦被测物体的红外辐射，使红外辐射能够准确地到达红外探测器。物镜的焦距和口径等参数会影响热像仪的成像质量和测量范围。

（2）红外探测器：如前所述，是将红外辐射转换为电信号的关键部件。不同类型的红外探测器具有不同的性能特点，如响应速度、灵敏度、工作波段等。

（3）信号处理电路：对红外探测器输出的电信号进行处理，包括放大、滤波、线性化校正、温度计算等。通过信号处理电路，可以提高热像仪的测量精度和稳定性。

（4）显示装置：用于显示被测物体的红外热像图和温