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集成运算放大器实验数据分析报告

摘要

本报告旨在通过对集成运算放大器（以下简称“运放”）基本特性参数的测试实验数据进行系统性分析，深入理解运放的工作原理、性能指标及其在实际电路中的表现。实验主要围绕运放的输入失调电压、开环电压增益、共模抑制比等关键参数展开，通过搭建典型测试电路，采集原始数据，并进行计算与对比分析，最终对所测试运放的性能做出评估，同时探讨实验过程中可能存在的误差来源及改进方向。本报告的分析结果对于合理选用运放、优化电路设计以及理解运放应用中的限制具有一定的参考价值。

引言

集成运算放大器作为一种高增益、高输入阻抗、低输出阻抗的多功能有源器件，是模拟电子技术领域中不可或缺的核心组件，广泛应用于信号放大、滤波、比较、运算等多种电路中。其性能参数直接影响整个电子系统的精度、稳定性和可靠性。因此，通过实验手段准确测量和分析运放的关键特性参数，不仅是学习模拟电子技术的重要实践环节，也为工程应用中运放的选型与电路调试提供了重要依据。本实验选用通用型运放作为测试对象，通过一系列针对性的测试，获取第一手数据，并对其进行深入剖析。

实验原理与方案

主要测试参数及原理

本次实验重点测试运放的以下关键参数：

1.输入失调电压(Uos)：在理想情况下，当运放的两个输入端电压相等（均为零时），输出电压应为零。但由于制造工艺的差异，实际运放的差动输入级晶体管特性不可能完全对称，导致在输入电压为零时，输出端存在一个非零电压。输入失调电压定义为：为了使输出电压为零，需要在输入端施加的补偿电压。其数值等于输出失调电压除以运放的开环差模电压增益。

2.开环差模电压增益(Aod)：指运放在无外加反馈情况下，输出电压与输入差模电压之比，通常以分贝(dB)为单位表示。由于开环增益极高，实际测试中通常采用闭环方式或引入深度负反馈的方式进行间接测量或在较小信号下测量。

3.共模抑制比(KCMR)：衡量运放对共模信号抑制能力的参数，定义为开环差模电压增益(Aod)与开环共模电压增益(Aoc)之比，同样以分贝(dB)为单位。共模抑制比越高，运放对共模干扰的抑制能力越强。

实验电路与方案设计

根据上述参数的测试原理，设计了相应的实验电路：

*输入失调电压测试电路：采用运放的闭环反相比例放大电路或同相比例放大电路，利用高精度电压表测量输出失调电压，再根据电路增益反推出输入失调电压。为提高测量精度，可采用调零电路或对称测量取平均值的方法。

*开环差模电压增益测试电路：考虑到运放开环增益极高，直接施加差模信号易导致输出饱和。实验中采用在运放输入端施加一个微小的差模信号（通常为mV级或μV级），通过测量输出电压的变化量，计算开环增益。为避免输出饱和，输入信号需足够小，并确保电源电压能够提供足够的输出摆幅。

*共模抑制比测试电路：通常采用将运放接成差动放大电路的形式。分别测量电路对差模信号的增益(Aud)和对共模信号的增益(Auc)，然后根据公式KCMR=20lg|Aud/Auc|计算得到共模抑制比。

实验中选用某通用型双极型集成运放（如741或OP07等，具体型号根据实际实验所用确定），使用双路直流稳压电源提供正负对称电源电压，采用函数信号发生器提供交流输入信号，使用示波器观察输出波形，使用数字万用表测量直流电压和交流电压有效值。

实验数据记录与初步处理

输入失调电压(Uos)测试数据

实验电路：运放接成电压跟随器形式（同相放大，增益为1），以消除闭环增益对失调电压测量的影响。

测试次数

电源电压(Vcc,-Vee)

输出失调电压Uo(mV)

输入失调电压Uos=Uo/Av(mV)

:-------

:-------------------

:--------------------

:------------------------------

1

±12V

X1

X1

2

±12V

X2

X2

3

±15V

Y1

Y1

4

±15V

Y2

Y2

*注：由于运放接成电压跟随器，闭环增益Av≈1，故Uos≈Uo。表中X1,X2,Y1,Y2为实测输出电压值，单位mV。实际计算时，可取多次测量的平均值作为最终结果，并考虑正负号。例如，若两次测量值分别为+X和-X，则失调电压可能为两者绝对值的平均，具体符号需结合电路判断。*

初步处理：

取±12V电源下两次测量的平均值Uos_avg_12V=(|X1|+|X2|)/2mV。

取±15V电源下两次测量的平均值Uos_avg_15V=(|Y1|+|Y2|)/2mV。

开环差模电压增益(Aod)测试数据

实验电路：运放输入端施加微小差模交流信号，频率为1kHz，用示波器观察输出波形，确保输