电子元器件参数测量与仪器应用.ppt

5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用1）使用方法QBG-3型Q表的面板如图5-20所示。连接被测元件的接线柱位于机箱的顶部。第28页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用第29页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(1)测量前的准备：使用前必须对“定位”电压表和“Q值”电压表进行机械调零，然后将“定位粗调”旋钮沿逆时针方向转到底，“定位零位较直”及“Q值零位较直”旋钮置于中间，“微调”（电容器）旋钮旋至零。其次，被测元件与接线柱之间的连线应越粗、越短越好。1）使用方法第30页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(2)线圈Q值的测量：将被测线圈接到“”接线柱上。调节“频率旋钮”及“波段开关”至测量所需的频率点。将“Q值范围”置于适当挡位。调节“定位零位校直”旋钮使“定位电压表”指示为零，调节“定位粗调”和“定位细调”使“定位”电压表的指针指到“Q×1”处。1）使用方法第31页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(3)线圈电感量的测量：首先估计被测线圈的电感值，在“、对照表”上找出对应的频率，再调节“波段开关”及“频率旋钮”至这个频率值。1）使用方法第32页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(4)电容量的测量：根据被测电容容量的大小，其测量方法有以下两种。a.小于460pF电容的测量。从仪器附件中取一只电感量大于1mH的标准电感接于“”接线柱上，将“微调”调至零，主调电容度盘调至最大（500pF），记作；然后调节“定位零位校直”和“Q值零位校直”，使“定位”电压表及Q表指示为零。1）使用方法第33页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(4)电容量的测量：根据被测电容容量的大小，其测量方法有以下两种。b.大于460pF电容的测量。可以采用前述的串联替代法来测量。1）使用方法第34页，共71页，星期日，2025年，2月5日5、典型仪器介绍——QBG-3型Q表的使用(5)电容损耗因数的测量：首先将主调电容度盘调至500pF，记作。将大于1mH的标准电感（附件）接于“”接线柱上，调节“波段开关”及“频率旋钮”，使Q表指示最大，设此时Q表读数为；然后将被测电容并接于“”接线柱上，调小主调电容度盘至某值，记作1）使用方法第35页，共71页，星期日，2025年，2月5日5.2电子器件特性及参数测量仪器电子器件特性及参数测试晶体管特性曲线的测量晶体管图示法典型仪器XJ4810型晶体管特性图示仪半导体分立器件测量模拟集成电路测量数字集成电路测量器件分类描点法图示法组成工作原理工作原理面板说明使用方法仪器应用测量方法主要技术指标知识分布网络第36页，共71页，星期日，2025年，2月5日1、电子器件参数仪器的分类1）半导体分立器件测量仪器半导体分立器件有二极管、双极型晶体管、场效晶体管、闸流晶体管（晶闸管）和光电子器件等种类。通常一种仪器只能测量几类器件的部分参数。根据所测参数的类型，半导体分立器件测量仪器大致可分为下列四种。第37页，共71页，星期日，2025年，2月5日1、电子器件参数仪器的分类1）半导体分立器件测量仪器（1）直流参数测量仪器（2）交流参数测量仪器（3）极限参数测量仪器（4）晶体管特性图示仪第38页，共71页，星期日，2025年，2月5日1、电子器件参数仪器的分类2）数字集成电路测试仪器数字集成电路主要有TTL和CMOS集成电路等。对其测试的内容主要有直流测试、交流测试和功能测试三部分。第39页，共71页，星期日，2025年，2月5日1、电子器件参数仪器的分类3）模拟集成电路测试仪模拟集成电路包括运算放大器、稳压器、比较器及专用模拟集成电路等。模拟集成电路的测试有直流测试和交流测试。第40页，共71页，星期日，2025年，2月5日2、晶体管特性曲线的测量晶体管特性曲线是指其有关电极的电压-电流之间或者电流-电流之间的关系曲线。测绘晶体管特性曲线主要有点测法（静态法）和图示法（动态法）。第41页，共71页，星期日，2025年，