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2025年纳米材料检测仪器操作与维护试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共30分）

1.扫描电子显微镜（SEM）中，影响分辨率的关键因素不包括以下哪项？

A.电子束斑直径

B.样品导电性

C.加速电压

D.物镜光阑尺寸

答案：B（样品导电性主要影响图像质量（如荷电效应），而非分辨率的核心参数；分辨率由电子束斑直径、加速电压（影响电子波长）、物镜光阑尺寸（影响球差）共同决定。）

2.透射电子显微镜（TEM）观察纳米颗粒时，样品超薄切片的理想厚度范围是？

A.1-10nm

B.50-100nm

C.200-500nm

D.1-2μm

答案：B（TEM电子穿透能力有限，纳米材料切片过厚会导致电子散射过强，图像模糊；过薄则难以制备且结构易破坏，50-100nm为常用范围。）

3.原子力显微镜（AFM）轻敲模式相比接触模式的主要优势是？

A.成像速度更快

B.对样品损伤更小

C.分辨率更高

D.可测样品范围更广

答案：B（接触模式中探针与样品持续接触，易划伤软质样品；轻敲模式探针周期性接触样品，减少摩擦力，适合生物大分子、聚合物等软材料。）

4.X射线衍射仪（XRD）进行纳米晶粒度分析时，应优先选择以下哪种靶材？

A.Cu靶（Kα=0.154nm）

B.Mo靶（Kα=0.071nm）

C.Fe靶（Kα=0.194nm）

D.Co靶（Kα=0.179nm）

答案：A（纳米晶粒度分析需满足谢乐公式适用条件，Cu靶波长与常见纳米材料晶面间距匹配，且衍射峰宽化更明显，利于小晶粒尺寸计算。）

5.拉曼光谱仪检测碳纳米管时，选择785nm激光而非532nm激光的主要原因是？

A.避免荧光干扰

B.提高信号强度

C.减小样品热损伤

D.扩大检测范围

答案：A（碳纳米管在短波长（如532nm）激光激发下易产生强荧光背景，掩盖拉曼信号；785nm近红外激光可有效抑制荧光，适用于含共轭结构的纳米材料。）

6.纳米粒度分析仪（动态光散射法）测试前，样品分散液的浊度应控制在？

A.10NTU

B.100-500NTU

C.1000-2000NTU

D.3000NTU

答案：B（浊度过低（100NTU）会导致散射光强不足，信号噪声比低；过高（500NTU）则多重散射效应显著，数据失真；100-500NTU为最佳范围。）

7.扫描探针显微镜（SPM）探针更换后，需进行的关键校准步骤是？

A.激光光斑对准探针尖端

B.调整扫描范围至最大

C.设置积分时间为最小值

D.更换样品台

答案：A（激光光斑需准确聚焦于探针悬臂末端，否则无法正确检测悬臂形变量，导致力信号失真；其他选项非关键步骤。）

8.电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）检测纳米颗粒元素组成时，若出现信号漂移，最可能的原因是？

A.载气流速波动

B.采样锥污染

C.雾化室温度过高

D.射频功率过低

答案：B（采样锥长期使用后会积累样品残留，导致离子传输效率下降，引起信号漂移；载气流速波动会导致信号不稳定但非持续漂移；雾化室温度和射频功率影响灵敏度但非漂移主因。）

9.热重分析仪（TGA）测试纳米材料热稳定性时，升温速率设置为10℃/min而非50℃/min的目的是？

A.缩短测试时间

B.减少热滞后效应

C.提高分辨率

D.降低能耗

答案：B（纳米材料比表面积大，热响应快，升温速率过快（如50℃/min）会导致样品实际温度与程序温度存在滞后，影响失重峰位置和焓变计算；10℃/min可平衡测试效率与准确性。）

10.布鲁克海文Zeta电位仪测试时，若样品池中有气泡，会导致？

A.Zeta电位绝对值增大

B.电泳迁移率测量值偏差

C.温度控制失效

D.激光强度增强

答案：B（气泡会干扰激光散射路径，导致电泳光散射（ELS）信号异常，迁移率计算错误；Zeta电位通过迁移率推导，故结果偏差；气泡不直接影响温度或激光强度。）

11.聚焦离子束（FIB）制备TEM样品时，减薄阶段应使用的离子束电流是？

A.1nA（粗加工）→10pA（精加工）

B.10pA（粗加工）→1nA（精加工）

C.1μA（粗加工）→100pA（精加工）

D.100pA（粗加工）→1μA（精加工）

答案：A（FIB制样分粗加工（去除大块材料，高电流1nA）和精加工（减薄至透射厚度，低电流10pA以减少损伤）；1μA电流过大，会导致样品过热变形。）

12.电子背散射衍射（EBSD）分析纳米晶体取