航天器介质充电效应模拟试验中电位测量技术的多维探究与应用拓展.docx

航天器介质充电效应模拟试验中电位测量技术的多维探究与应用拓展

一、引言

1.1研究背景与意义

随着人类对太空探索的不断深入，航天器在太空环境中的安全运行面临着诸多挑战，其中介质充电效应是影响航天器可靠性和寿命的关键因素之一。在地球辐射带、太阳风以及宇宙射线等复杂的空间环境中，航天器会受到高能带电粒子的轰击，这些粒子能够穿透航天器的外壳并在内部的绝缘介质中沉积电荷，从而引发介质充电现象。

介质充电可能导致航天器内部产生高达数千伏甚至上万伏的电场，当电场强度超过介质的击穿阈值时，就会发生放电现象。这种放电不仅会对航天器的电子设备造成直接的物理损坏，如烧毁芯片、击穿电路板等，还会产生强烈的电磁脉冲