2025年大学《化学测量学与技术》专业题库—— 物质表面分析技术的发展.docxVIP

2025年大学《化学测量学与技术》专业题库——物质表面分析技术的发展

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题

1.下列哪一项不是典型的表面或界面现象？

A.气体在固体表面的吸附

B.液体润湿固体表面

C.液体自身的分层（密度差引起）

D.毛细现象

2.扫描隧道显微镜（STM）的工作原理基于：

A.离子轰击样品表面产生二次离子

B.样品表面与针尖之间的隧道电流随距离的变化

C.X射线与原子核的相互作用

D.激光诱导的表面增强拉曼散射

3.X射线光电子能谱（XPS）主要用于分析：

A.表面元素组成和化学状态

B.表面原子层厚度

C.表面形貌

D.表面分子吸附密度

4.俄歇电子能谱（AES）与XPS相比，其主要优点通常在于：

A.对轻元素分析能力更强

B.空间分辨率更高

C.可进行元素定量分析

D.对表面深度信息更敏感

5.二次离子质谱（SIMS）的主要分析功能是：

A.获取原子序数信息

B.获取表面几纳米到几十纳米深度内的元素组成和同位素信息

C.获取表面化学键信息

D.获取表面原子力信息

6.傅里叶变换红外光谱（FTIR）在表面分析中常使用衰减全反射（ATR）技术，其主要目的是：

A.增强对气相分子的检测

B.提高对透明或半透明样品的检测灵敏度

C.实现样品的等离子体刻蚀

D.获得原子级分辨率表面形貌

7.表面等离激元共振（SPR）技术主要基于：

A.X射线与物质的相互作用

B.电子束与物质的相互作用

C.金属表面等离子体激元的共振吸收

D.表面原子间的化学键振动

8.在进行STM成像时，要求样品表面在低温（如液氮温区）下进行，其主要原因是：

A.提高样品的导电性

B.减少环境振动对成像稳定性的影响

C.增强样品表面的吸附物

D.降低针尖扫描的摩擦力

9.以下哪种技术属于破坏性表面分析技术？

A.扫描隧道显微镜（STM）

B.原子力显微镜（AFM）

C.二次离子质谱（SIMS）

D.X射线光电子能谱（XPS）

10.选择合适的表面分析技术时，需要考虑的首要因素通常是：

A.该技术的价格高低

B.分析人员对该技术的熟悉程度

C.所需获取的表面信息的类型（元素组成、化学状态、形貌、厚度等）

D.实验室现有的仪器设备

二、填空题

1.表面分析技术通常关注的是材料与______或______之间相互作用的界面区域。

2.原子力显微镜（AFM）通过检测探针针尖与样品表面之间的______力随扫描距离的变化来成像。

3.X射线光电子能谱（XPS）利用______与样品相互作用，测量被激发的电子动能，从而获得有关样品表面元素组成和化学状态的信息。

4.SIMS利用高能______轰击样品表面，产生二次离子，再通过质谱仪进行分离和检测，实现表面成分分析。

5.表面分析技术可分为探针技术、电子能谱、光谱学、质谱学和其他技术等主要类别。其中，俄歇电子能谱（AES）属于______技术。

6.为了获得样品表面的红外吸收信息，FTIR-ATR技术通过将红外光束以______角入射到样品表面，利用倏逝波穿透样品表层进行检测。

7.原位表面分析技术是指在不破坏或少破坏______的条件下，对表面过程进行实时或近实时监测的分析技术。

8.衡量表面分析技术灵敏度的一个常用指标是______，它表示能被检测到的最小样品量或浓度。

9.对于需要分析敏感或易损表面的样品，通常优先考虑选择______或______等非破坏性分析技术。

10.在分析复杂体系的表面组成时，经常需要采用______技术，将不同类型的表面分析技术组合在同一仪器上，以获得更全面的信息。

三、名词解释

1.表面形貌

2.化学位移

3.原位表征

4.衰减全反射(ATR)

5.空间分辨率

四、简答题

1.简述扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）在成像原理和样品要求方面的主要区别。

2.解释X射线光电子能谱（XPS）中出现的化学位移现象及其意义。

3.简述选择表面分析技术时需要考虑的主要因素有哪些？

五、论述/分析题

假设你需要研究一种新型催化剂在反应过程中的表面结构演变和活性位点变化。请分析，针对这项研究，你可以