表面涂层与处理.pptVIP

材料科学与工程学院材料工程基础—表面涂层与处理材料工程基础—表面涂层与处理材料科学与工程学院材料工程基础—表面涂层与处理材料科学与工程学院材料工程基础—表面涂层与处理材料科学与工程学院材料工程基础—表面涂层与处理表面涂层与处理*材料工程基础—表面涂层与处理*第1页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*表面涂层与处理可以合称为：表面技术。这种技术有悠久的历史,如北京城里的故宫，那些雕梁画栋，人们用鲜红的大漆进行装饰和保护；早在战国时期，古人就知道对钢进行淬火，来获得坚硬的表面；马王堆出土的宝剑，因为表面的络膜，历经千年，锋利依旧。第2页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*表面性貌分析：主要由各种放大率和分辨率极高的显微镜来完成。表面成分分析：包括测定表面元素组成及元素在表面与沿纵向深度分布、表面元素的化学态。表面结构分析：探知表面晶体的原子排列、晶体大小、晶体取向、结晶对称性等晶体结构信息。表面电子态分析：表面电子能级分布和空间分布不同于体内。表面原子态分布：主要对表面原子或吸附粒子的吸附能、振动状态及其在表面的扩散运动的能量或势态分析。一、表面分析第3页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*二、表面分析仪器：1、显微分析仪器光学显微镜由于受到波长的限制，其分辨率和放大倍数已不能满足现代科技发展的要求。为此相继出现了一系列高分辨本领的的显微分析仪器，其分辨率大大提高，可以达到原子尺度水平（约0.1nm），更值得一提的是，他们在获得高分辨图像的同时还可以获得物质图像的其它信息（如图像显示、结构分析和成分分析等）。第4页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*（1）透射式电子显微镜（TEM）电子被加速到100kev时，其波长仅为0.37nm，为可见光的十万分之一左右，因此用电子束。成像，分辨本领大大提高。现在电子显微镜的分辨本领可高达0.2nm。（2）扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。第5页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*（3）扫描隧道显微镜（STM）它作为一种扫描探针显微术工具，扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子，它具有比它的同类原子力显微镜更加高的分辨率。此外，扫描隧道显微镜在低温下（4K）可以利用探针尖端精确操纵原子，因此它在纳米科技既是重要的测量工具又是加工工具。（4）原子力显微镜(AFM)根据扫描隧道显微镜的原理设计的高速拍摄三维图像的显微镜。可观察大分子在体内的活动变化。第6页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*(5)扫描透射电镜（STEM）和分析电子显微镜（AEM）将扫描电子技术应用到透射电子显微镜形成了扫描透射电镜，在此基础上结合能量分析和各种能谱仪就构成了分析电子显微镜。第7页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*2、衍射分析方法衍射分析方法是以结构分析为目的的分析方法。（1）X射线衍射（XD）用X射线衍射分析已知化学组成物质的晶体结构时，可用X射线衍射峰的掠射角，求出晶面间距，对照PDF卡，分析出被测物质的晶体结构。（2）电子衍射（ED）电子衍射技术能使X射线射入固体较深，一般用于三维晶体和表面结构分析。第8页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础—表面涂层与处理*3、X射线光谱仪和电子探针（1）X射线光谱仪在X射线分析仪器中，除了主要用于晶体结构分析的X射线衍射仪之外，还有用于成分分析的X射线荧光分析仪。所谓X射线荧光分析仪就是用X射线作为一种外来能量打击样品，使试样产生波长大于入射X射线的特征X射线，而后经分光作定性和定量分析。（2）电子探针电子探针具有分析区域小，灵敏度高，可直接观察选区，制样方便，不损坏试样以及可作多重分析等特点，是一种有力的分析工具。第9页，共25页，星期日，2025年，2月5日*材料工程基础