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2025年射线探伤工理论知识考试题库及答案

一、单项选择题（每题2分，共30题）

1.X射线与γ射线的本质区别在于（）。

A.传播速度不同B.产生方式不同C.波长范围不同D.穿透能力不同

答案：B（X射线由高速电子轰击靶材产生，γ射线由放射性同位素衰变产生）

2.射线在物质中的衰减主要遵循（）。

A.指数衰减规律B.线性衰减规律C.平方反比定律D.布拉格定律

答案：A（射线强度衰减公式：I=I?e^(-μd)，μ为线衰减系数，d为厚度）

3.胶片特性曲线的“梯度”反映了（）。

A.胶片的感光度B.胶片的对比度C.胶片的灰雾度D.胶片的宽容度

答案：B（梯度G=ΔD/ΔlgE，ΔD为黑度变化，ΔlgE为曝光量对数变化，梯度越大，对比度越高）

4.线型像质计的灵敏度等级“1-7”中，“1”表示（）。

A.最细金属丝直径B.最粗金属丝直径C.丝径与工件厚度的百分比D.丝径的绝对尺寸

答案：A（线型像质计编号越小，金属丝越细，灵敏度越高）

5.透照厚度比K值的计算公式为（）。

A.K=T/TB.K=T/(T-T)C.K=(T+T)/TD.K=T/(T+T)

答案：A（K为最大透照厚度T与最小透照厚度T的比值，反映工件厚度差对透照的影响）

6.散射线的主要来源是（）。

A.光电效应B.康普顿效应C.电子对效应D.瑞利散射

答案：B（康普顿效应中，光子与物质原子外层电子碰撞，产生能量降低、方向改变的散射线）

7.黑度计的测量范围通常为（）。

A.0.1-1.0B.1.0-3.0C.0.5-4.0D.2.0-5.0

答案：C（射线底片黑度一般要求1.5-4.0，黑度计需覆盖此范围）

8.曝光曲线的主要作用是（）。

A.确定透照时间B.确定管电压与曝光量的关系C.确定焦距D.确定像质计类型

答案：B（曝光曲线以工件厚度为横坐标，管电压为纵坐标，标注不同厚度对应的曝光量）

9.几何不清晰度Ug的计算公式为（）。

A.Ug=f·b/FB.Ug=f·(F-b)/bC.Ug=f·b/(F-b)D.Ug=f·(F-b)/F

答案：C（f为焦点尺寸，b为工件至胶片距离，F为焦点至胶片距离，F-b为焦点至工件距离）

10.铅增感屏的主要作用是（）。

A.吸收散射线B.增强射线对胶片的感光作用C.提高底片对比度D.以上都是

答案：D（铅屏通过光电效应吸收低能散射线，同时发射二次电子增强胶片感光）

11.以下哪种缺陷在射线底片上呈现为细直线状影像（）。

A.气孔B.裂纹C.夹渣D.未焊透

答案：B（裂纹开口窄、方向性强，底片上为连续或断续的细直线，边缘清晰）

12.射线检测时，工件表面至胶片的距离（b）增大，会导致（）。

A.几何不清晰度减小B.几何不清晰度增大C.对比度提高D.散射线减少

答案：B（Ug=f·b/(F-b)，b增大时，Ug增大）

13.放射性同位素Co-60的半衰期约为（）。

A.5.3天B.5.3年C.30年D.1600年

答案：B（Co-60半衰期约5.27年，常用于大厚度工件的γ射线检测）

14.底片上“伪缺陷”的主要成因是（）。

A.工件内部缺陷B.胶片处理不当C.射线能量过高D.焦距过小

答案：B（如划伤、折痕、显影液污染等操作失误导致的非真实缺陷影像）

15.透照厚度为40mm的钢工件（密度7.8g/cm3），使用Ir-192（μ=0.15mm?1）时，射线强度衰减至初始值的（）。

A.1/e2B.1/e?C.1/e?D.1/e?

答案：B（I/I?=e^(-μd)=e^(-0.15×40)=e^(-6)）

16.以下哪种像质计用于评定射线检测的对比度灵敏度（）。

A.线型像质计B.孔型像质计C.槽型像质计D.以上均可

答案：B（孔型像质计通过不同直径的通孔反映对比度灵敏度，线型像质计反映细节灵敏度）

17.射线检测中，“背散射”主要来自（）。

A.工件前表面B.工件后表面C.设备外壳D.周围环境

答案：B（射线穿透工件后，与胶片背面物质碰撞产生反向散射，需用铅板屏蔽）

18.胶片的“灰雾度”是指（）。

A.未曝光胶片的固有黑度B.曝光过度导致的黑度C.显影不足导致的黑度D.散射线引起的黑度

答案：