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2025年大学《粉体材料科学与工程-粉体表征技术》考试备考试题及答案解析
单位所属部门:________姓名:________考场号:________考生号:________
一、选择题
1.粉体粒径分布测试中,筛分分析法的主要优点是()
A.可以测试极细粉体的粒径分布
B.操作简单,成本较低
C.可以获得精确的粒度中值
D.适用于所有类型的粉体
答案:B
解析:筛分分析法操作相对简单,不需要复杂的设备,成本较低,适用于多种粉体材料的粗略粒度分析。其缺点是对于极细粉体不够敏感,且测试过程可能存在误差累积。精确的粒度中值需要结合多种方法综合判断。该方法主要适用于颗粒尺寸较大的粉体。
2.在使用BET方法测定粉体比表面积时,通常需要将粉体在特定温度下预处理,其主要目的是()
A.去除粉体中的水分
B.增加粉体的比表面积
C.使粉体颗粒表面活化
D.防止粉体氧化
答案:C
解析:BET方法测定比表面积需要粉体表面处于相对稳定的状态。预处理通常是为了去除物理吸附的水分和其他杂质,同时使粉体颗粒表面达到一个稳定的状态,便于后续的吸附测量。增加比表面积和防止氧化与BET测定原理无关。
3.粉体沉降分析法主要用于测定()
A.粉体的真密度
B.粉体的堆积密度
C.粉体的粒度分布
D.粉体的孔隙率
答案:C
解析:沉降分析法基于粉体颗粒在液体中沉降的速率与其粒径大小的关系。通过测量不同时间沉降颗粒的体积或质量,可以计算出不同粒径范围的颗粒含量,从而得到粉体的粒度分布。该方法不直接测定密度或孔隙率。
4.使用激光粒度分析仪测定粉体粒度分布时,其核心原理是()
A.透射光强度衰减
B.颗粒散射光角度差异
C.筛分原理
D.重力沉降
答案:B
解析:激光粒度分析仪利用激光照射粉体样品,颗粒对激光产生散射,散射光强度和角度与颗粒粒径有关。通过检测不同角度的散射光强度,可以反演出粉体颗粒的粒径分布。该方法基于光的散射原理,而非透射、筛分或沉降。
5.粉体真密度的测定方法中,不包括()
A.烘干法
B.浮力法
C.质量法
D.压实法
答案:D
解析:测定真密度的方法通常包括浮力法(测量粉体在液体中的视密度差)、质量法(结合粉体质量和体积)等间接方法,或直接使用特定仪器测定。压实法是测定粉体堆积密度的方法,通过施加压力使粉体压实,得到的密度是堆积密度,不是真密度。
6.X射线衍射(XRD)技术主要用于分析粉体的()
A.粒度分布
B.形状因子
C.晶体结构
D.比表面积
答案:C
解析:X射线衍射技术利用X射线与粉体晶体相互作用产生的衍射现象,来分析粉体的晶体结构信息,如物相组成、晶粒尺寸、晶胞参数等。它不直接测定粒度、形状或比表面积。
7.粉体流动性测试中,常用的指标不包括()
A.堆积角
B.紧密堆积密度
C.振实密度
D.比表面积
答案:D
解析:粉体流动性是指粉体在外力作用下流动或填充的能力,常用指标包括堆积角(表示颗粒间的摩擦力)、振实密度(表示粉体在振动下达到的紧密程度)、紧密堆积密度(理论最大密度)等。比表面积是粉体表面特性参数,与流动性没有直接关系。
8.使用显微镜观察粉体形貌时,主要可以获得()
A.粉体的粒度分布数据
B.粉体的晶体结构信息
C.粉体颗粒的形状和表面特征
D.粉体的真密度
答案:C
解析:光学显微镜或电子显微镜可以直观地观察粉体颗粒的形状、大小、表面纹理和结构等形态特征。虽然可以辅助估计粒度,但主要不是用于精确的粒度分布数据获取,更不能测定密度或晶体结构。
9.测定粉体堆积密度时,取样应均匀,其主要目的是()
A.提高测量结果的精度
B.避免颗粒破碎
C.减少测量时间
D.保证样品安全
答案:A
解析:堆积密度是粉体在特定容器中自然堆积或振动填充后的单位体积质量。为了获得具有代表性的样品,确保样品的均匀性是关键,这样可以避免局部区域颗粒过多或过少导致的测量结果偏差,从而提高整体测量结果的准确性和代表性。
10.动态光散射(DLS)技术主要用于测定()
A.粉体的晶体结构
B.粉体的粒度分布(基于颗粒大小引起的布朗运动)
C.粉体的真密度
D.粉体的表面电荷
答案:B
解析:动态光散射技术通过分析溶液中颗粒因布朗运动引起的散射光强度随时间和波长的变化,来测定纳米或微米级颗粒的尺寸分布。它基于颗粒的运动特性,而非结构、密度或表面电荷的直接测定。
11.粉体真密度与堆积密度相比,通常具有()
A.更大的数值
B.更小的数值
C.相同的数值
D.无法比较
答案:A
解析:粉体的真密度是指粉体颗粒本身的质量除以其体积,即不包括颗粒间空隙的密度。堆积密度是指粉体在特定条件下(自然堆积或压实)单位体积的质量,其中包含
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