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2025年无损检测员(中级)职业技能鉴定重点试题及答案

一、单项选择题（每题1分，共30分）

1.在射线照相检测中，决定胶片对比度的主要因素是

A.射线能量?B.胶片类型?C.曝光量?D.显影时间

答案：B

解析：胶片对比度由胶片本身的特性曲线决定，与胶片类型直接相关。

2.采用A型脉冲反射式超声探伤仪时，屏幕上水平基线代表

A.反射波幅?B.声波传播时间?C.缺陷当量?D.探头频率

答案：B

解析：水平基线对应声波在材料中的传播时间，可换算为距离。

3.磁粉检测中，连续法与剩磁法相比，其优点是

A.检测速度快?B.可检测近表面缺陷?C.灵敏度高?D.无需电源

答案：C

解析：连续法在通电同时施加磁粉，漏磁场持续存在，可捕捉更微弱缺陷。

4.渗透检测时，下列哪种情况会导致“虚假显示”

A.清洗剂挥发过快?B.显像剂层过厚?C.工件表面有锈蚀凹坑?D.渗透时间不足

答案：C

解析：锈蚀凹坑可残留渗透剂，形成非相关显示，即虚假显示。

5.用10mm平底孔试块调整超声灵敏度，其反射波高80%，若改用2mm平底孔，波高约为

A.5%?B.10%?C.20%?D.40%

答案：A

解析：反射声压与面积成正比，与距离平方成反比，面积比(22/102)=0.04，再考虑衰减，实际约5%。

6.射线照相中，几何不清晰度Ug与焦点尺寸d、缺陷至胶片距离b、焦点至工件距离f的关系为

A.Ug=d·b/f?B.Ug=d·f/b?C.Ug=b·f/d?D.Ug=d/(b·f)

答案：A

解析：Ug=db/f，减小焦点、增大焦距或减小缺陷至胶片距离均可降低Ug。

7.在GB/T23905-2009中，AB级射线检测的像质计灵敏度要求为

A.1.5%?B.2.0%?C.2.5%?D.3.0%

答案：B

解析：AB级对应2-2T灵敏度，即应识别丝径为工件厚度2%的像质计丝。

8.超声斜探头K值标定常用

A.CSK-IA试块?B.IIW试块?C.半圆试块?D.阶梯试块

答案：A

解析：CSK-IA有φ1.5横孔，可测探头前沿、K值及声速。

9.磁悬液浓度测定采用

A.梨形沉淀管?B.比重计?C.折光仪?D.粘度计

答案：A

解析：标准规定用100mL梨形管静置30min，读取磁粉沉淀体积。

10.下列哪项不是渗透检测环境控制参数

A.温度?B.湿度?C.风速?D.紫外辐照度

答案：C

解析：风速对渗透剂挥发影响小，标准未作限制。

11.当量法超声定量中，若缺陷波高等于φ3mm-6dB，则其当量平底孔直径为

A.1.5mm?B.2mm?C.2.5mm?D.3mm

答案：C

解析：-6dB对应回波高度减半，面积减半，直径为3/√2≈2.1mm，取最接近2.5mm。

12.射线管焦点尺寸测量常用

A.针孔法?B.边缘法?C.双丝法?D.阶梯孔法

答案：A

解析：针孔相机成像后测投影尺寸，计算有效焦点。

13.在TOFD检测中，盲区大小主要取决于

A.探头频率?B.探头楔块延迟?C.脉冲宽度?D.增益大小

答案：B

解析：楔块延迟决定直通波与底波之间的时间间隔，延迟越大盲区越大。

14.磁化规范中，圆周磁化电流按I=K·D计算，K值对非荧光磁粉一般取

A.8?B.12?C.18?D.25

答案：C

解析：GB/T26951规定非荧光磁粉K=18，荧光K=12。

15.渗透剂含水量超标会导致

A.荧光亮度下降?B.可水洗性变差?C.闪点降低?D.粘度升高

答案：B

解析：水与渗透剂互溶，乳化后难以清洗，形成背景过染。

16.超声检测中，材料衰减系数测定需扣除

A.扩散衰减?B.散射衰减?C.吸收衰减?D.界面反射损失

答案：A

解析：扩散衰减与距离平方成反比，需用双探头法或反射法扣除。

17.射线底片黑度D=2时，透过率约为

A.1%?B.10%?C.50%?D.99%

答案：A

解析：D=lg(I?/I)=2，I/I?=10?2=1%。

18.下列哪种缺陷最适合用涡流检测

A.内部气孔?B.表面疲劳裂纹?C.未焊透?D.缩松

答案：B

解析：涡流对表面开口裂纹灵敏度最高。

19.在GB/T18851.3中，渗透检测温度范围规定为

A.5-40℃?B.10-50℃?C.15-55℃?D.20-60