2025年特种设备无损检测人员资格考试超声检测UT历年参考题库含答案.docxVIP

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2025年特种设备无损检测人员资格考试(超声检测UT)历年参考题库含答案

一、单项选择题

1.超声波在介质中传播时,遇到不同声阻抗的界面会发生()。

A.反射

B.折射

C.透射

D.以上都是

答案:D

解析:当超声波在介质中传播遇到不同声阻抗的界面时,一部分超声波会在界面处发生反射,另一部分会进入另一种介质发生折射和透射。所以反射、折射、透射都会发生,答案选D。

2.超声检测中,纵波在固体中的传播速度()横波的传播速度。

A.大于

B.小于

C.等于

D.不确定

答案:A

解析:在固体介质中,纵波的传播速度一般大于横波的传播速度。这是由介质的性质和波的传播特点决定的,纵波质点振动方向与波的传播方向一致,传播相对容易,速度较快。所以答案是A。

3.超声检测用的探头中,()探头可产生横波。

A.直探头

B.斜探头

C.双晶探头

D.聚焦探头

答案:B

解析:直探头主要产生纵波;斜探头通过特定的设计和角度,可使超声波以一定角度入射到工件中,从而产生横波;双晶探头是将发射和接收晶片分开,可用于不同的检测需求,但一般不专门用于产生横波;聚焦探头主要是对超声波进行聚焦,也不是专门产生横波的。所以答案选B。

4.超声检测中,灵敏度余量是指()。

A.仪器最大输出功率与最小输出功率之差

B.仪器最大增益与最小增益之差

C.在规定的探测灵敏度下,仪器最大可检测的深度与最小可检测深度之差

D.在达到规定的基准灵敏度时,仪器还能增加的增益量

答案:D

解析:灵敏度余量是指在达到规定的基准灵敏度时,仪器还能增加的增益量。它反映了仪器检测微小缺陷的能力,余量越大,说明仪器检测小缺陷的能力越强。所以答案是D。

5.超声检测中,调节仪器的()可以改变超声波的发射强度。

A.增益旋钮

B.衰减器

C.发射强度旋钮

D.扫描速度旋钮

答案:C

解析:增益旋钮主要是调节接收信号的放大倍数;衰减器用于衰减信号;扫描速度旋钮是调节扫描线的时间比例,与发射强度无关;而发射强度旋钮可以直接改变超声波的发射强度。所以答案选C。

6.超声检测中,当检测面比较粗糙时,宜选用()探头。

A.高频

B.低频

C.高灵敏度

D.窄脉冲

答案:B

解析:当检测面比较粗糙时,高频超声波在粗糙表面会产生较大的散射和衰减,导致检测效果不佳。低频超声波波长较长,对粗糙表面的适应性较好,能减少散射和衰减的影响。所以宜选用低频探头,答案是B。

7.超声检测中,用试块对比法检测缺陷时,试块的材质、形状和尺寸应与被检工件()。

A.完全相同

B.基本相同

C.有较大差异

D.没有关系

答案:B

解析:用试块对比法检测缺陷时,试块的材质、形状和尺寸应与被检工件基本相同。这样才能保证试块和工件中的超声波传播特性相似,从而使检测结果更准确可靠。完全相同很难做到,有较大差异则会影响检测结果的准确性,所以答案选B。

8.超声检测中,缺陷的当量大小是指()。

A.缺陷的实际尺寸

B.与缺陷回波高度相同的标准反射体的尺寸

C.缺陷在检测方向上的投影尺寸

D.缺陷的体积大小

答案:B

解析:缺陷的当量大小是指与缺陷回波高度相同的标准反射体的尺寸。由于实际缺陷的形状、性质等复杂多样,很难直接测量其实际尺寸,通过与标准反射体对比回波高度来确定当量大小更具有可操作性和实用性。所以答案是B。

9.超声检测中,()现象会导致缺陷回波高度降低。

A.缺陷表面粗糙

B.缺陷内部有气体

C.缺陷靠近检测面

D.缺陷为球形

答案:A

解析:缺陷表面粗糙会使超声波在缺陷表面发生散射,导致反射回波能量降低,回波高度降低;缺陷内部有气体,一般会形成较好的反射界面,回波可能较强;缺陷靠近检测面,回波传播距离短,能量损失小,回波高度可能较高;球形缺陷在某些情况下也可能有较好的反射效果。所以答案选A。

10.超声检测中,当超声波垂直入射到异质界面时,若两种介质的声阻抗相差越大,则反射波()。

A.越强

B.越弱

C.不变

D.不确定

答案:A

解析:根据超声波反射的原理,当超声波垂直入射到异质界面时,反射波的强度与两种介质的声阻抗差有关,声阻抗相差越大,反射系数越大,反射波越强。所以答案是A。

二、多项选择题

1.超声检测的优点包括()。

A.检测灵敏度高

B.可检测内部缺陷

C.对人体无害

D.检测结果直观

答案:ABC

解析:超声检测具有检测灵敏度高的特点,能够检测到微小的内部缺陷;可以检测工件内部的缺陷情况;超声检测使用的是超声波,对人体无害。但是超声检测的结果不是直观的,需要检测人员根据波形等进行分析判断。所以答案选ABC。

2.超声检测中常用的试块有()。

A.标准试块

B.对比试块

C.参考

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