超声波检测技术 (2).pptVIP

6.1.5超声波检测方法1.超声检测设备和器材超声检测设备和器材包括超声波检测仪、探头、试块、耦合剂和机械扫查装置等。超声检测仪和探头对超声检测系统的性能起着关键性的作用，是产生超声波并对经材料中传播后的超声波信号进行接收、处理、显示的部分。由这些设备组成一个综合的超声检测系统，系统的总体性能不仅受到各个分设备的影响，还在很大程度上取决于它们之间的配合。随着工业生产自动化程度的提高，对检测的可靠性、速度提出了更高的要求，以往的手工检测越来越多地被自动检测系统取代。第62页，共95页，星期日，2025年，2月5日1)超声波检测仪超声波检测仪是超声检测的主体设备，是专门用于超声检测的一种电子仪器。(1)超声波检测仪的作用。它的作用是产生电振荡并加于换能器——探头，激励探头发射超声波，同时将探头送回的电信号进行放大处理后以一定方式显示出来，从而得到被探测工件内部有无缺陷及缺陷的位置和大小等信息。第63页，共95页，星期日，2025年，2月5日图6-17A型显示原理图第64页，共95页，星期日，2025年，2月5日②按缺陷显示方式分类：脉冲式检测仪按回波信号的显示方式又可分为A型显示、B型显示和C型显示三种类型。A型显示是一种波形显示，屏幕的横坐标代表声波的传播时间（或距离），纵坐标代表反射波的声压幅度。可以认为该方式显示的是沿探头发射声束方向上一条线上的不同点的回波信息。图6-17为A型显示原理图。图中，T表示发射脉冲，F表示来自缺陷的回波，B表示底面回波。B型显示显示的是试件的一个二维截面图，屏幕纵坐标代表探头在探测面上沿一直线移动扫查的位置坐标，横坐标是声传播的时间（或距离）。该方式可以直观地显示出被探工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度等信息。第65页，共95页，星期日，2025年，2月5日图6-18B型显示原理图第66页，共95页，星期日，2025年，2月5日C型显示显示的是试件的一个平面投影图，探头在试件表面做二维扫查，屏幕的二维坐标对应探头的扫查位置。探头在每一位置接收的信号幅度以光点辉度表示。该方式可形象地显示工件内部缺陷的平面投影图像，但不能显示缺陷的深度。图6-19为C型显示原理图。第67页，共95页，星期日，2025年，2月5日对于脉冲反射技术来说，还有一个有意义的量是声压往返透过率，如图6-8所示。通常入射声压经过两种介质的界面透射到试件中后，均需经过相反的路径（假设在工件底面的反射为全反射）再次穿过界面到第一介质中才被探头所接收。两次穿透界面时透射率的大小，决定着接收信号的强弱。因此，将声压沿相反方向两次穿过界面时总的透射率称为声压往返透过率(tp)，其数值等于两次穿透界面的透射率的乘积，由式（6-13）可得（6-16）第30页，共95页，星期日，2025年，2月5日图6-8声压往返透过率第31页，共95页，星期日，2025年，2月5日2.超声波垂直入射到多层界面上时的反射和透射在超声检测中经常遇到超声波进入第二种介质后，穿过第二种介质再进入第三种介质的情况。如图6-9所示，当超声波从介质1（声阻抗为Z1）中垂直入射到介质1和介质2（声阻抗为Z2）的界面上时，一部分声能被反射，另一部分透射到介质2中；当透射的声波到达介质2和介质3（声阻抗为Z3）的界面时，再次发生反射与透射，其反射波部分在介质2中传播至介质2与介质1的界面，则又会发生同样的过程。如此不断地继续下去，则在两个界面的两侧，产生一系列的反射波与透射波。第32页，共95页，星期日，2025年，2月5日图6-9在两个界面上的反射和透射第33页，共95页，星期日，2025年，2月5日3.超声波倾斜入射到平界面上的反射、折射和波型变换当超声波相对于界面入射点法线以一定的角度倾斜入射到两种不同介质的界面上时，在界面上会产生反射、折射和波型转换现象，见图6-10。入射声波与入射点法线之间的夹角称为入射角。第34页，共95页，星期日，2025年，2月5日图6-10超声波倾斜入射到平界面上的反射、折射和波型变换(a)纵波入射；(b)横波入射第35页，共95页，星期日，2025年，2月5日1)反射如图6-10（a）所示，当纵波以入射角αL倾斜入射到异质界面上时，将会在介质1中于入射点法线的另一侧产生与法线成一定夹角αL′的反射纵波。反射波与入射点法线之间的夹角称为反射角。入射纵波与反射纵波之间的关系符合几何光学的反射定律，即αL=αL′。与光的反射不同的是，当介质1为固体时，界面上既产生反射纵波，同时又发生波型转换并产生反射横波，