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芯片测试中的故障诊断与处理
一、单选题（每题2分，共20题）
1.在芯片测试过程中，以下哪种方法不属于静态测试的范畴？
A.功能测试
B.逻辑分析仪分析
C.压力测试
D.时序测试
2.当芯片测试中发现某个引脚的电压异常，初步判断故障原因时，首先应检查的是？
A.测试夹具的连接
B.测试程序的正确性
C.芯片的内部结构
D.供电电源的稳定性
3.在进行芯片的边界扫描测试时，主要目的是？
A.测试芯片的功耗
B.检查芯片的时序特性
C.发现芯片的物理损坏
D.验证芯片的接口通信能力
4.芯片测试中，以下哪种工具主要用
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