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2025年超声UT中级实操模拟题及答案

一、超声仪器的操作与校准

1.请简述超声探伤仪水平线性的校准步骤。

(1).选择合适的试块，如CSK-IA试块，该试块具有已知的距离刻度。

(2).将探头与探伤仪连接好，并在试块上涂抹适量的耦合剂。

(3).调节探伤仪的增益、抑制等参数，使探伤仪屏幕上能够清晰显示试块上的反射波。

(4).找到试块上不同距离的反射波，例如CSK-IA试块上的不同深度的孔的反射波。

(5).测量这些反射波在探伤仪屏幕上的水平位置，并与试块上实际的距离进行对比。

(6).通过调节探伤仪的水平线性旋钮，使反射波的水平位置与实际距离成线性关系。

(7).重复测量和调节过程，直到水平线性误差在规定的范围内（一般要求水平线性误差不超过±2%）。

2.如何进行超声探伤仪垂直线性的校准？

(1).同样选择合适的试块，如CSK-IA试块。

(2).调节探伤仪的增益，使试块上某一反射波的高度达到屏幕满刻度的80%左右。

(3).记录此时的增益值G1。

(4).以2dB为一档，逐档降低增益，直到反射波高度降低到满刻度的10%左右，记录每一档的增益值和对应的反射波高度。

(5).根据记录的数据，绘制增益-波高曲线。

(6).理想情况下，增益每变化2dB，波高应按一定比例变化（如减半或加倍）。通过比较实际的增益-波高曲线与理想曲线，调节探伤仪的垂直线性旋钮，使两者尽可能接近。

(7).计算垂直线性误差，垂直线性误差一般要求不超过±5%。如果误差超出范围，需进一步调节或检查仪器。

3.请说明探头前沿距离的测量方法。

(1).准备CSK-IA试块。

(2).将探头置于试块上，使探头的声束对准试块上的R100圆弧面。

(3).调节探伤仪的增益和扫描范围，使R100圆弧面的反射波清晰显示在屏幕上。

(4).移动探头，找到R100圆弧面反射波最高的位置，此时探头的位置即为最佳探测位置。

(5).测量探头前端到试块边缘的距离L1。

(6).已知试块上R100圆弧面到试块边缘的距离L2（固定值）。

(7).探头前沿距离L=L2-L1。

4.怎样确定探头的K值（折射角）？

(1).选用CSK-ⅡA试块。

(2).将探头放在试块上，使声束对准试块上的不同深度的横孔。

(3).调节探伤仪的增益和扫描范围，使横孔的反射波清晰显示在屏幕上。

(4).找到试块上某一深度h的横孔反射波最高的位置。

(5).测量探头中心到横孔在试块表面投影点的水平距离x。

(6).根据公式K=x/h计算探头的K值。

(7).为了提高测量的准确性，可以测量多个不同深度横孔的K值，然后取平均值。

二、缺陷的检测与定位

5.在超声检测中，如何判断缺陷的存在？

(1).观察探伤仪屏幕上的反射波信号。当有缺陷存在时，会在屏幕上出现与正常反射波不同的额外反射波。

(2).比较反射波的幅度。如果反射波的幅度超过了预先设定的探伤灵敏度门槛值，则可能存在缺陷。

(3).分析反射波的位置和形状。不同类型的缺陷会产生不同位置和形状的反射波。例如，点状缺陷的反射波通常比较尖锐，而片状缺陷的反射波可能比较宽。

(4).结合工件的结构和工艺特点。了解工件的制造工艺、可能出现缺陷的部位等信息，有助于判断反射波是否由缺陷引起。

(5).采用多角度检测。从不同的方向和角度对工件进行检测，如果在不同角度都能检测到相似的反射波，则更有可能是缺陷。

6.简述缺陷定位的方法。

水平定位

(1).当采用直探头检测时，根据探伤仪屏幕上显示的反射波的水平位置，结合探伤仪的扫描速度和探头的位置，计算出缺陷在工件表面的水平距离。

(2).对于斜探头检测，利用探头的K值和反射波的水平位置，通过三角函数关系计算缺陷在工件表面的水平距离。例如，已知探头K值为K，反射波在屏幕上对应的水平距离为x，缺陷在工件表面的水平距离L=x/K（假设声程为水平方向）。

深度定位

(1).直探头检测时，根据探伤仪屏幕上反射波的水平位置和扫描速度，直接计算出缺陷的深度。例如，扫描速度为v（mm/格），反射波对应的水平格数为n，则缺陷深度h=v×n。

(2).斜探头检测时，利用探头的折射角和反射波的声程来计算缺陷的深度。已知声程S和折射角β，缺陷深度h=S×cosβ。

7.当检测到多个缺陷时，如何区分不同缺陷的信号？

(1).观察反射波的出现顺序。根据探伤仪屏幕上反射波出现的先后顺序，可以初步判断缺陷在工件中的相对位置，先出现的反射波对应的缺陷一般离探头较近。

(2).分析反射波的幅度和形状。不同大小、形状和性质的缺陷会产生不同幅度和形状的反射波。例如，较大的缺陷通常会产生较高幅度的反射波，而裂纹