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(2)N沟耗尽:第30页,共58页,星期日,2025年,2月5日(3)P沟增强:第31页,共58页,星期日,2025年,2月5日(4)P沟耗尽:第32页,共58页,星期日,2025年,2月5日第二部分MOS反相器反相器是MOS数字集成电路中最基本的单元电路。由于CMOS技术已经发展成为大规模集成电路(VLSI)的主流技术,因此本章以CMOS为主,在这之前先介绍NMOS和其他类型的反相器。第33页,共58页,星期日,2025年,2月5日MOS反相器简介:MOS反相器可分为:静态反相器、动态反相器。其结构如右图:驱动管通常为增强型NMOS,即E-NMOS。负载元件可以是:电阻(E/R反相器),增强型MOS(E/E反相器),耗尽型MOS(E/D反相器),P沟MOS(CMOS)。有比反相器:P113无比反相器:P113负载驱动管MOS静态反相器的一般结构NMOS反相器第34页,共58页,星期日,2025年,2月5日NMOS反相器简介:1.饱和增强型负载NMOS反相器饱和增强型负载NMOS反相器=教材中的增强型NMOS管M1M1M2M2工作状态?第35页,共58页,星期日,2025年,2月5日饱和增强型负载NMOS反相器Vi为低电平时,根据M1M2可知,当时,其输出高压比电源VDD少了一个阈值电压:这就叫阈值损失。由ID1=ID2的条件可以得到输出低电平:第36页,共58页,星期日,2025年,2月5日2.非饱和增强型负载NMOS反相器为了克服饱和负载反相器输出高电平有阈值损失的缺点,可以把负载管M2的栅极接一个更高的电压VGG,且VGGVDD+VT,使负载管M2由饱和区变为线性区。由线性区电流方程:可得当Vout=VDD时才使ID=0,因此输出高电平可达到VDD由于要增加一个电压源VGG,给使用带来不便或第37页,共58页,星期日,2025年,2月5日3.耗尽型负载NMOS反相器(VTD0)M2永远导通。输出高电平时,M1截止,M2工作在线性区,得到所以有输出低电平时,M1工作在线性区,M2工作在饱和区当时,得到输出低电平(VG-VT-VS)VGS-VT第38页,共58页,星期日,2025年,2月5日4.电阻负载NMOS反相器容易看出输出高电平后M1导通,输出开始下降当时,第39页,共58页,星期日,2025年,2月5日7.1自举反相器自举反相器只需一个电源VDD就能使输出高电平达到VDD高电平输入时,输出低电平VOL,负载管栅极电平为:VGL0=VDD-VTE自举电容CB两端电压:VGSL=VDD-VTE-VL输入电平由高变低时,CB两端电压不能突变,负载管删压VGL随输出电压一起升高,这就是自举效应。此时ML工作状态?此时ML工作状态?(关键问题)输出达到高电平VDD自举电容的大小对特性有很大影响第40页,共58页,星期日,2025年,2月5日MB作用:使ML栅压不低于VDD-VTECB作用:输出电压上升时,CB反偏到ML的栅极,使ML的栅压Vo升高而升高--自举效应注意:CB的大小对特性影响很大第41页,共58页,星期日,2025年,2月5日第1页,共58页,星期日,2025年,2月5日1、在双极型工艺下ECL/CML:EmitterCoupledLogic/CurrentModeLogic射极耦合逻辑/电流型开关逻辑TTL:TransistorTransistorLogic晶体管-晶体管逻辑:IntegratedInjectionLogic集成注入逻辑第2页,共58页,星期日,2025年,2月5日2、在MOS工艺下NMOS、PMOS:MNOS:MetalNitride(氮)OxideSemiconductor(E)NMOS与(D)NMOS组成的单元CMOS:MetalGateCMOSHSCMOS:HighSpeedCMOS(硅栅CMOS)CMOS/SOS:SilicononSapphire(兰宝石上CMOS,提高抗辐射能力)VMOS:VerticalCMOS(垂直结构CMOS提高密度及避免Lutch-Up效应)第3页,共58页,星期日,2025年,2月5日第一部分:MOS晶体管的工作
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