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2025年（电子科学与技术）集成电路测试方法试题及答案

第I卷（选择题，共40分）

答题要求：请将正确答案的序号填在括号内。

1.集成电路测试的主要目的不包括（）

A.验证功能正确性B.检测性能参数C.提高芯片集成度D.发现制造缺陷

答案：C

2.以下哪种测试属于集成电路的直流参数测试（）

A.逻辑功能测试B.电源电流测试C.信号完整性测试D.时序测试

答案：B

3.集成电路测试中，用来检测芯片内部短路故障的测试方法是（）

A.电压测试B.电流测试C.电阻测试D.电容测试

答案：B

4.对于集成电路的功能测试，通常采用（）

A.穷举测试B.抽样测试C.随机测试D.边界扫描测试

答案：A

5.集成电路测试中，能同时检测芯片输入输出引脚连接情况及内部逻辑功能的是（）

A.在线测试B.离线测试C.内建自测试D.边界扫描测试

答案：D

6.以下关于集成电路测试向量的说法，错误的是（）

A.用于激励芯片B.可检测芯片故障C.越多越好D.要覆盖所有功能

答案：C

7.集成电路测试中，检测芯片功耗的是（）

A.功率测试B.温度测试C.频率测试D.噪声测试

答案：A

8.集成电路测试中，为了提高测试效率，常采用（）

A.并行测试B.串行测试C.混合测试D.顺序测试

答案：A

9.集成电路测试中，检测芯片可靠性的测试是（）

A.老化测试B.静态测试C.动态测试D.功能测试

答案：A

10.集成电路测试中，对于高速芯片，重点关注的测试是（）

A.功耗测试B.时序测试C.功能测试D.直流参数测试

答案：B

第II卷（非选择题，共60分）

11.简答题：请简述集成电路测试中直流参数测试的主要内容。

_答：直流参数测试主要包括电源电流、电源电压、各引脚的直流输入输出电平、阈值电压、导通电阻等参数的测试。通过这些测试，可以了解芯片在直流工作状态下的性能，判断芯片是否存在直流偏置异常等问题。_

12.简答题：说明集成电路功能测试的一般流程。

_答：首先确定测试向量，根据芯片功能设计一系列输入激励；然后将测试向量施加到芯片输入引脚；接着观察芯片输出引脚的响应，与预期输出进行比较；最后根据比较结果判断芯片功能是否正确。_

13.简答题：阐述集成电路内建自测试（BIST）的优点。

_答：BIST可以减少外部测试设备的依赖，降低测试成本；能够在芯片内部自动生成测试向量和进行测试，提高测试效率；还可以在芯片正常工作时进行实时监测，便于及时发现潜在故障。_

14.讨论题：在集成电路测试中，如何平衡测试成本和测试覆盖率？

_答：一方面可以采用合适的测试方法，如内建自测试等，减少对昂贵外部测试设备的依赖，降低测试成本。另一方面，根据芯片的重要性和应用场景，合理确定测试覆盖率。对于关键功能和易出故障的部分重点测试，避免过度测试导致成本过高。通过优化测试策略，在保证一定测试覆盖率的前提下，有效控制测试成本。_

答案

1.C

2.B

3.B

4.A

5.D

6.C

7.A

8.A

9.A

10.B

11.直流参数测试主要包括电源电流、电源电压、各引脚的直流输入输出电平、阈值电压、导通电阻等参数的测试。通过这些测试，可以了解芯片在直流工作状态下的性能，判断芯片是否存在直流偏置异常等问题。

12.首先确定测试向量，根据芯片功能设计一系列输入激励；然后将测试向量施加到芯片输入引脚；接着观察芯片输出引脚的响应，与预期输出进行比较；最后根据比较结果判断芯片功能是否正确。

13.BIST可以减少外部测试设备的依赖，降低测试成本；能够在芯片内部自动生成测试向量和进行测试，提高测试效率；还可以在芯片正常工作时进行实时监测，便于及时发现潜在故障。

14.一方面可以采用合适的测试方法，如内建自测试等，减少对昂贵外部测试设备的依赖，降低测试成本。另一方面，根据芯片的重要性和应用场景，合理确定测试覆盖率。对于关键功能和易出故障的部分重点测试，避免过度测试导致成本过高。通过优化测试策略，在保证一定测试覆盖率的前提下，有效控制测试成本。