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2025年智慧树知到《电镜学》考试题库及答案解析

就读院校：________姓名：________考场号：________考生号：________

一、选择题

1.电镜学中，用于观察样品表面形貌的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可

D.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均不可

答案：B

解析：扫描电子显微镜（SEM）主要通过电子束扫描样品表面，收集二次电子等信号来成像，能够提供样品表面的高分辨率图像。透射电子显微镜（TEM）则主要用于观察样品的内部结构。因此，观察样品表面形貌应使用扫描电子显微镜。

2.在电镜样品制备过程中，制作超薄切片时常用的包埋材料是（）

A.蜡

B.树脂

C.糊精

D.蛋白质

答案：B

解析：超薄切片的制作需要使用能承受高分辨率成像的包埋材料，树脂是一种常用的包埋材料，具有良好的硬度和化学稳定性，能够保证切片在电镜中保持良好的形态和结构。

3.电镜中，用于提高分辨率的技术是（）

A.增加加速电压

B.使用更小的孔径光阑

C.增加物镜的放大倍数

D.以上都是

答案：D

解析：增加加速电压可以减少电子的德布罗意波长远，提高分辨率；使用更小的孔径光阑可以减少衍射效应，提高图像的清晰度；增加物镜的放大倍数可以提高图像的放大效果。因此，以上都是提高分辨率的技术。

4.电镜中，用于观察样品内部结构的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可

D.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均不可

答案：A

解析：透射电子显微镜（TEM）主要通过电子束穿透样品，收集透射电子信号来成像，能够提供样品内部的高分辨率图像。扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察样品表面形貌。因此，观察样品内部结构应使用透射电子显微镜。

5.电镜中，用于提高成像亮度的技术是（）

A.增加光源亮度

B.使用更小的孔径光阑

C.增加物镜的放大倍数

D.使用电子倍增器

答案：D

解析：电子倍增器可以显著提高电镜成像的灵敏度，从而提高成像亮度。增加光源亮度和使用更小的孔径光阑可以提高分辨率，但不会显著提高成像亮度。增加物镜的放大倍数可以提高图像的放大效果，但不会提高成像亮度。

6.电镜中，用于观察样品晶体结构的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可

D.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均不可

答案：A

解析：透射电子显微镜（TEM）可以通过电子束与样品晶体的相互作用，观察样品的晶体结构。扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察样品表面形貌。因此，观察样品晶体结构应使用透射电子显微镜。

7.电镜中，用于提高成像对比度的技术是（）

A.使用重金属染色

B.使用暗场成像

C.增加物镜的放大倍数

D.使用相位板

答案：A

解析：使用重金属染色可以通过增加样品对电子束的吸收，提高成像对比度。暗场成像和相位板也可以提高成像对比度，但重金属染色是一种常用的技术。增加物镜的放大倍数可以提高图像的放大效果，但不会提高成像对比度。

8.电镜中，用于观察样品三维结构的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可

D.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均不可

答案：B

解析：扫描电子显微镜（SEM）可以通过电子束扫描样品表面，收集二次电子等信号来成像，能够提供样品表面的三维图像。透射电子显微镜（TEM）主要用于观察样品的内部结构。因此，观察样品三维结构应使用扫描电子显微镜。

9.电镜中，用于观察样品动态变化的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.冷冻电镜

D.以上都是

答案：C

解析：冷冻电镜可以用于观察样品的动态变化，例如蛋白质的构象变化等。透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察样品的静态结构。因此，观察样品动态变化应使用冷冻电镜。

10.电镜中，用于观察样品微观结构的仪器是（）

A.透射电子显微镜

B.扫描电子显微镜

C.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可

D.透射电子显微镜和扫描电子显微镜均不可

答案：C

解析：透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）都可以用于观察样品的微观结构。TEM主要用于观察样品的内部结构，SEM主要用于观察样品表面形貌。因此，观察样品微观结构应使用透射电子显微镜和扫描电子显微镜均可。

11.电镜中，样品进行电子衍射时，主要利用的是（）

A.入射电子的波动性

B.入射电子的粒子性

C.样品表面的二次电子

D.样品背散射电子

答案：A

解析：电子衍射是基于劳厄定律，利用入射电子的波动性在晶体势场中发生衍射的现象。电子具有