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2025年无损检测员职业技能鉴定实操标准技巧试卷及答案

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.在射线检测中，当曝光曲线给出的管电压为220kV、曝光量为15mA·min时，若实际焦距由600mm调整为800mm，为保持底片黑度不变，新的曝光量应为

A.20.0mA·min?B.26.7mA·min?C.30.5mA·min?D.35.2mA·min

答案：B

2.采用A型脉冲反射法超声检测Φ219×12mm环焊缝，探头K值取2.0，仪器按深度1∶1调节扫描比例，若一次波发现位于40mm深度的缺陷，则缺陷水平距离为

A.20mm?B.40mm?C.60mm?D.80mm

答案：D

3.磁粉检测时，若标准试片A130/100贴于工件表面显示不清晰，最优先调整的参数是

A.磁化电流值?B.磁悬液浓度?C.紫外辐照度?D.工件表面粗糙度

答案：A

4.渗透检测中，对铝合金铸件采用溶剂去除型着色法，下列哪项操作会降低灵敏度

A.预清洗后烘干温度120℃×10min?B.渗透时间25min?C.显像层厚度约0.05mm?D.环境温度18℃

答案：A

5.TOFD检测时，若两探头中心距2s=120mm，PCS=120mm，工件厚40mm，则直通波与底面反射波时间间隔约为（钢中纵波声速5.9km/s）

A.13.6μs?B.20.3μs?C.27.1μs?D.33.9μs

答案：C

6.在CR（计算机射线照相）系统中，决定图像基本空间分辨率的是

A.激光扫描点尺寸?B.IP板厚度?C.射线源焦点?D.工件散射比

答案：A

7.采用8×8mm×48mm线圈纵向磁化一轴类零件，线圈匝数5，按NB/T47013.42015中心导体法公式，磁化电流I（A）约为

A.450?B.720?C.900?D.1200

答案：B

8.超声相控阵S扫图像中，若楔块延迟校准错误导致入射角偏大2°，则对缺陷深度测量结果的影响是

A.偏大?B.偏小?C.无影响?D.随机误差

答案：B

9.对复合板（基层Q345R+覆层316L）进行射线检测，若采用Ir192源，最可能产生的伪缺陷影像是

A.覆层未熔合白线?B.基层夹渣黑线?C.散射边蚀亮带?D.晶界腐蚀黑斑

答案：C

10.数字射线DR检测中，为提高对比度噪声比CNR，最有效的措施是

A.增加管电流?B.减小焦点尺寸?C.提高探测器增益?D.积分多帧平均

答案：D

二、判断题（每题1分，共10分，正确打“√”，错误打“×”）

11.超声检测时，若使用2.5MHz、Φ20mm直探头检测100mm厚铸件，则近场长度约为42mm。

答案：√

12.磁粉检测中，交流电磁轭提升力≥45N即满足NB/T47013.42015要求。

答案：×

13.渗透检测后，若需在24h后进行复检，必须重新进行预清洗和显像。

答案：√

14.TOFD检测的盲区大小与探头频率成反比，与PCS成正比。

答案：√

15.射线底片黑度D=2.5时，对应透光率为0.316%。

答案：√

16.相控阵探头晶片数量越多，则电子聚焦能力越强，但旁瓣电平一定降低。

答案：×

17.采用半波高度法测定缺陷长度时，若回波峰值下降6dB，则探头中心移动距离即为缺陷指示长度。

答案：√

18.在CR系统中，IP板擦除不彻底会导致“鬼影”，可用白光二次擦除消除。

答案：√

19.对于非铁磁性材料，磁粉检测无法使用，但可用涡流检测替代。

答案：√

20.当射线源侧焊缝余高过大时，采用双壁单影法可减小几何不清晰度。

答案：×

三、填空题（每空2分，共20分）

21.超声检测中，当声程x=200mm、材料衰减系数α=0.02dB/mm时，声波往返衰减________dB。

答案：8

22.射线检测用线型像质计最细线径为0.25mm时，其对应灵敏度为________%。

答案：0.8

23.磁粉检测湿法黑磁粉粒度范围一般为________μm。

答案：1–10

24.渗透检测时，显像剂中使用的二氧化钛属于________型显像剂。

答案：干式

25.TOFD检测中，若直通波相位与底面反射波相位相反，则缺陷尖端衍射波相位与直通波相位________。

答案：相同

26.相控阵超声扇扫角度范围由________定律决定最大偏转角。