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关于xps考试题及答案

一、填空题

1.XPS全称为X射线光电子能谱。

2.XPS分析中，常用的激发源是AlKα和MgKα射线。

3.XPS可以对材料表面的元素组成、化学状态进行分析。

4.XPS谱图中，结合能的大小与元素所处的化学环境有关。

5.为了得到高分辨率的XPS谱图，需要选择合适的能量分析器。

6.XPS分析的深度一般在纳米级别。

7.在XPS谱图中，由于化学环境不同导致的结合能位移称为化学位移。

8.XPS可以检测的元素范围是除H和He以外的几乎所有元素。

9.采用XPS分析时，样品需要处于高真空环境。

10.XPS谱图的横坐标是结合能，纵坐标是光电子计数。

二、单项选择题

1.XPS主要用于分析材料的（）

A.内部结构

B.表面元素和化学状态

C.晶体结构

D.力学性能

答案：B

2.以下哪种射线不是XPS常用的激发源（）

A.AlKα

B.CuKα

C.MgKα

D.以上都不是

答案：B

3.XPS谱图中，结合能的参考标准通常是（）

A.C1s峰（284.8eV）

B.O1s峰

C.N1s峰

D.Si2p峰

答案：A

4.当元素的氧化态升高时，其XPS谱图中对应的结合能（）

A.升高

B.降低

C.不变

D.不确定

答案：A

5.XPS分析的深度大约是（）

A.1-10nm

B.10-100nm

C.100-1000nm

D.大于1000nm

答案：A

6.以下哪种元素不能用XPS检测（）

A.C

B.H

C.O

D.Fe

答案：B

7.XPS谱图中，光电子的动能与结合能的关系是（）

A.动能等于结合能

B.动能等于激发源能量减去结合能

C.动能等于结合能减去激发源能量

D.没有关系

答案：B

8.为了提高XPS分析的灵敏度，通常可以（）

A.降低激发源强度

B.增加分析时间

C.减小能量分析器的通能

D.以上都不对

答案：B

9.XPS分析中，样品表面的污染会导致（）

A.谱峰强度增加

B.谱峰位置偏移

C.出现额外的谱峰

D.以上都有可能

答案：D

10.XPS谱图中，化学位移主要反映了（）

A.元素的含量

B.元素的化学环境变化

C.光电子的能量损失

D.仪器的误差

答案：B

三、多项选择题

1.XPS可以用于以下哪些方面的分析（）

A.元素定性分析

B.元素定量分析

C.化学状态分析

D.晶体结构分析

答案：ABC

2.XPS常用的激发源具有以下哪些特点（）

A.能量高

B.能量单色性好

C.能产生特征X射线

D.波长较长

答案：ABC

3.影响XPS谱图中结合能的因素有（）

A.元素的氧化态

B.元素周围的化学键类型

C.元素的价态

D.样品的导电性

答案：ABCD

4.XPS分析时，对样品有以下哪些要求（）

A.样品要干燥

B.样品表面要清洁

C.样品要具有一定的导电性

D.样品可以是块状、粉末状等多种形态

答案：ABCD

5.以下关于XPS谱图的说法正确的是（）

A.不同元素有其特征的结合能峰

B.谱峰的强度与元素的含量有关

C.化学位移可以反映元素的化学环境变化

D.谱图的分辨率与能量分析器的性能有关

答案：ABCD

6.在XPS分析中，为了消除荷电效应，可以采取以下哪些措施（）

A.采用低能电子束中和

B.涂覆导电层

C.选择合适的参考峰进行校准

D.提高样品的真空度

答案：ABC

7.XPS与其他表面分析技术相比，具有以下哪些优点（）

A.可以分析元素的化学状态

B.分析深度较深

C.可以进行定量分析

D.对样品的损伤较小

答案：ACD

8.XPS谱图中，可能出现的谱峰类型有（）

A.主峰

B.伴峰

C.卫星峰

D.俄歇峰

答案：ABCD

9.以下哪些元素的XPS谱图可以用于研究材料的催化性能（）

A.Pt

B.Pd

C.Ni

D.Cu

答案：ABCD

10.XPS分析中，数据处理包括以下哪些步骤（）

A.谱峰校准

B.谱峰拟合

C.元素定量计算

D.化学状态分析

答案：ABCD

四、判断题

1.XPS只能分析材料表面的元素组成，不能分析化学状态。（×）

2.所有元素的XPS谱图中，结合能的位置都是固定不变的。（×）

3.XPS分析时，样品必须是块状的。（×）

4.化学位移是由于元素的含量变化引起的。（×）

5.采用XPS分析时，激发