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2025年AI+研发数字峰会(AiDD峰会)：面向智能测试的接口平台构建.docx

2025年AI+研发数字峰会(AiDD峰会)：面向智能测试的接口平台构建.docx

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    面向智能测试的接口平台构建

    刘敏|中兴通讯

    目录CONTENTS1.背景/问题/

    目录

    CONTENTS

    2.整体方案

    3.具体技术实践

    4.总结与展望

    PART01

    背景/问题/痛点

    背景——聚焦核心场景，击穿全流程AI实践

    随着人工智能技术的迅猛发展，越来越多的产品在实践中融合了AI，获得了显著的成果。在AI加持下，测试领域如何聚效核心场景，击穿测试全流程，实现10倍速的研发提效，值得深入研究。

    痛点问题

    项目以微服务架构的产品为主，重视接口层的防护，但也存在以下痛点。

    1.人工编写

    4.测试流程相关工具未打通

    4.测试流程相

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