射线检测试题题库及答案.docxVIP

射线检测试题题库及答案

一、单项选择题（每题2分，共30分）

1.关于X射线与γ射线的本质区别，正确的描述是（）

A.X射线是原子核外电子跃迁产生，γ射线是原子核衰变产生

B.X射线能量不可调，γ射线能量可调

C.X射线穿透能力弱，γ射线穿透能力强

D.X射线为连续谱，γ射线为单能谱

答案：A

2.射线在物质中的衰减遵循指数规律，其数学表达式为（）

A.I=I?e^(-μd)

B.I=I?e^(μd)

C.I=I?(1-μd)

D.I=I?/(1+μd)

答案：A

3.以下哪种因素会导致射线底片对比度降低？（）

A.增加管电压

B.减小曝光量

C.使用高反差胶片

D.缩短焦距

答案：A（管电压升高，射线能量增加，散射线增多，对比度下降）

4.线型像质计的灵敏度计算公式为（）

A.（金属丝直径/透照厚度）×100%

B.（透照厚度/金属丝直径）×100%

C.（金属丝长度/透照厚度）×100%

D.（透照厚度/金属丝长度）×100%

答案：A

5.透照厚度比K值的定义是（）

A.最大透照厚度与最小透照厚度的比值

B.最小透照厚度与最大透照厚度的比值

C.透照厚度与焦距的比值

D.焦距与透照厚度的比值

答案：A

6.以下哪种缺陷在射线底片上通常呈现为黑色细直线，边缘清晰，有时可见分叉？（）

A.气孔

B.夹渣

C.裂纹

D.未熔合

答案：C

7.使用Ir-192γ射线源透照钢工件时，其半衰期约为（）

A.74天

B.15天

C.30年

D.5.3年

答案：A

8.射线底片的黑度应使用（）测量

A.密度计

B.硬度计

C.超声波测厚仪

D.像质计

答案：A

9.透照时，为减少散射线影响，最有效的措施是（）

A.增加曝光时间

B.使用铅箔增感屏

C.提高管电压

D.缩短焦距

答案：B（铅箔增感屏可吸收部分散射线）

10.以下关于X射线机焦点的描述，错误的是（）

A.焦点越小，几何不清晰度越小

B.实际焦点大于有效焦点

C.焦点形状通常为正方形或长方形

D.焦点尺寸不影响透照灵敏度

答案：D（焦点尺寸直接影响几何不清晰度，进而影响灵敏度）

11.射线检测中，“几何不清晰度Ug”的计算公式为（）

A.Ug=f×b/(a-b)

B.Ug=f×a/(a+b)

C.Ug=f×b/a

D.Ug=f×a/b

答案：C（Ug=焦点尺寸f×缺陷至胶片距离b/焦点至缺陷距离a）

12.某工件透照厚度为50mm，选用管电压200kV，若需透照厚度增加至60mm，保持其他参数不变，管电压应（）

A.降低

B.升高

C.不变

D.无法确定

答案：B（厚度增加，需更高能量射线穿透）

13.以下哪种胶片属于高反差胶片？（）

A.T3（高感光度）

B.T2（中感光度）

C.T1（低感光度）

D.所有胶片反差相同

答案：C（感光度越低，反差通常越高）

14.辐射防护的“ALARA原则”是指（）

A.合理可行尽量低

B.必须达到最低

C.任意水平均可

D.尽可能高

答案：A

15.射线检测中，“底片评定范围”通常指（）

A.焊缝两侧各5mm区域

B.焊缝宽度加两侧各10mm区域

C.焊缝本身及热影响区

D.像质计显示区域

答案：B（根据GB/T3323，评定范围为焊缝宽度加两侧各10mm）

二、判断题（每题1分，共15分。正确打“√”，错误打“×”）

1.连续X射线的最短波长仅与管电压有关，与管电流无关。（）

答案：√（λmin=1.24/U，U为管电压）

2.半价层是指射线强度衰减至初始值1/2时的物质厚度，半价层越小，物质对射线的吸收能力越弱。（）

答案：×（半价层越小，吸收能力越强）

3.透照时，增大焦距可减小几何不清晰度，因此焦距越大越好。（）

答案：×（焦距过大会导致曝光时间过长，效率降低）

4.气孔在底片上通常呈现为圆形或椭圆形黑色斑点，边缘清晰，中心较黑。（）

答案：√

5.未焊透在底片上表现为连续或断续的黑色直线，宽度均匀，位置位于焊缝中心。（）

答案：√

6.增感屏的作用仅为缩短曝光时间，对影像质量无影响。（）

答案：×（增感屏可吸收散射线，