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精密光学玻璃平板检测仪器隔振系统的优化设计与实践研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代光学制造与检测技术中,精密光学玻璃平板作为核心元件,被广泛应用于高端光学仪器、半导体制造、航空航天等关键领域。随着相关领域对光学系统性能要求的不断攀升,如在先进光刻机中,需实现纳米级光刻精度以满足芯片制造的工艺需求;在高分辨率天文望远镜中,要求光学系统具备极高的成像质量以捕捉遥远天体的微弱信号,这使得对精密光学玻璃平板的质量检测精度提出了近乎严苛的标准。

在检测过程中,检测仪器的精度直接决定了能否准确识别玻璃平板的微小缺陷、表面平整度以及光学性能偏差等关键质量指标。然而,在实际检测环境中,振动干扰是

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