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2025年半导体芯片测试工程师考核试卷
一、单项选择题（每题1分，共30题）
1.半导体芯片测试中，哪项不属于ATE（自动测试设备）的主要功能？
A.功能测试
B.参数测量
C.装配封装
D.故障诊断
2.在半导体测试中，常用的电压测量范围是多少？
A.0-5V
B.0-10V
C.0-20V
D.0-50V
3.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的功耗？
A.I/V测试
B.温度测试
C.功耗测试
D.频率测试
4.半导体芯片测试中，哪项是静态测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
5.在半导体测试中，常用的电流测量范围是多少？
A.0-5mA
B.0-10mA
C.0-20mA
D.0-50mA
6.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的耐压能力？
A.电压测试
B.耐压测试
C.电流测试
D.频率测试
7.半导体芯片测试中，哪项不属于ATE（自动测试设备）的硬件组成？
A.控制器
B.测试夹具
C.操作系统
D.数据采集卡
8.在半导体测试中，常用的频率测量范围是多少？
A.0-1MHz
B.0-10MHz
C.0-100MHz
D.0-1GHz
9.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的传输延迟？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
10.半导体芯片测试中，哪项是动态测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
11.在半导体测试中，常用的电容测量范围是多少？
A.0-1pF
B.0-10pF
C.0-100pF
D.0-1nF
12.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的噪声水平？
A.噪声测试
B.功耗测试
C.频率测试
D.温度测试
13.半导体芯片测试中，哪项不属于ATE（自动测试设备）的软件组成？
A.测试程序
B.操作系统
C.数据分析软件
D.测试夹具
14.在半导体测试中，常用的电阻测量范围是多少？
A.0-1Ω
B.0-10Ω
C.0-100Ω
D.0-1kΩ
15.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的短路保护功能？
A.短路测试
B.过流测试
C.功耗测试
D.频率测试
16.半导体芯片测试中，哪项是功能测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
17.在半导体测试中，常用的电感测量范围是多少？
A.0-1μH
B.0-10μH
C.0-100μH
D.0-1mH
18.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的过温保护功能？
A.温度测试
B.过温测试
C.功耗测试
D.频率测试
19.半导体芯片测试中，哪项不属于ATE（自动测试设备）的主要功能？
A.功能测试
B.参数测量
C.装配封装
D.故障诊断
20.在半导体测试中，常用的电压测量范围是多少？
A.0-5V
B.0-10V
C.0-20V
D.0-50V
21.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的功耗？
A.I/V测试
B.温度测试
C.功耗测试
D.频率测试
22.半导体芯片测试中，哪项是静态测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
23.在半导体测试中，常用的电流测量范围是多少？
A.0-5mA
B.0-10mA
C.0-20mA
D.0-50mA
24.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的耐压能力？
A.电压测试
B.耐压测试
C.电流测试
D.频率测试
25.半导体芯片测试中，哪项不属于ATE（自动测试设备）的硬件组成？
A.控制器
B.测试夹具
C.操作系统
D.数据采集卡
26.在半导体测试中，常用的频率测量范围是多少？
A.0-1MHz
B.0-10MHz
C.0-100MHz
D.0-1GHz
27.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的传输延迟？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
28.半导体芯片测试中，哪项是动态测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
29.在半导体测试中，常用的电容测量范围是多少？
A.0-1pF
B.0-10pF
C.0-100pF
D.0-1nF
30.以下哪种测试方法主要用于检测芯片的噪声水平？
A.噪声测试
B.功耗测试
C.频率测试
D.温度测试
二、多项选择题（每题2分，共20题）
1.ATE（自动测试设备）的主要功能包括哪些？
A.功能测试
B.参数测量
C.装配封装
D.故障诊断
2.在半导体测试中，常用的测量参数有哪些？
A.电压
B.电流
C.频率
D.电容
E.电感
3.半导体芯片测试中，哪些属于静态测试？
A.时序测试
B.功能测试
C.静态功耗测试
D.动态测试
4.以下哪些测试方法可以用于检测芯片的耐压能力？
A.电压测试
B.耐压测试
C.电流测试
D.频率测试
5.半导体芯片测试中，ATE（自动测试设备）的硬件组成包括哪些？
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