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XRF考试题目及答案

填空题

1.XRF中文全称是。

2.XRF分析的基本原理是。

3.XRF常用的激发源有。

4.XRF分析中常用的探测器有。

5.元素的特征X射线能量与有关。

6.XRF可用于分析的样品形态有。

7.基体效应会影响XRF分析的。

8.进行XRF定量分析时常用的方法有。

9.XRF分析的检测限主要取决于。

10.提高XRF分析精度可采取的措施有。

单项选择题

1.以下哪种不是XRF的优点（）

A.快速B.无损C.分析元素范围窄D.可多元素同时分析

2.XRF分析中，激发源产生的X射线与样品作用主要产生（）

A.二次电子B.特征X射线C.背散射电子D.俄歇电子

3.能谱型XRF探测器的工作原理基于（）

A.光电效应B.康普顿散射C.电子对效应D.以上都有

4.对于轻元素分析，XRF更适合采用（）激发源

A.放射性同位素B.射线管C.激光D.电子束

5.XRF分析中，样品的粒度对分析结果（）影响

A.有较大B.有较小C.无D.不确定

6.以下哪种元素不能用XRF准确分析（）

A.铁B.氢C.铜D.铅

7.与波长型XRF相比，能谱型XRF的优势在于（）

A.分辨率高B.价格便宜C.分析速度快D.对轻元素灵敏度高

8.XRF分析时，样品的表面平整度要求（）

A.很高B.一般C.较低D.无要求

9.用于XRF分析的标准样品主要作用是（）

A.校准仪器B.对比外观C.增加重量D.提高激发效率

10.XRF分析软件主要功能不包括（）

A.数据采集B.数据处理C.样品制备D.结果报告

多项选择题

1.XRF可用于分析的领域有（）

A.地质矿产B.环境监测C.金属材料D.食品检测

2.影响XRF分析精度的因素有（）

A.仪器稳定性B.样品均匀性C.环境温度D.操作人员技能

3.XRF分析中常用的样品制备方法有（）

A.压片B.熔融C.粉末稀释D.切割

4.以下属于XRF分析特点的是（）

A.非破坏分析B.多元素同时测定C.分析速度快D.对样品要求低

5.能谱型XRF探测器的组成部分通常有（）

A.闪烁体B.光电倍增管C.半导体探测器D.前置放大器

6.XRF分析中，降低背景干扰的方法有（）

A.优化仪器参数B.选择合适样品基体C.增加探测器距离D.采用滤波片

7.可用于XRF分析的样品预处理方式有（）

A.清洗B.打磨C.干燥D.涂覆

8.以下哪些元素可以用XRF进行较好分析（）

A.钙B.硅C.钠D.金

9.XRF分析仪器的主要部件包括（）

A.激发源B.探测器C.分光系统D.数据处理系统

10.提高XRF分析灵敏度的途径有（）

A.优化激发条件B.选择合适探测器C.增加样品量D.改进样品制备方法

判断题

1.XRF只能分析固体样品。（）

2.XRF分析时，激发源能量越高越好。（）

3.能谱型XRF探测器分辨率比波长型高。（）

4.基体效应在XRF分析中无法避免。（）

5.XRF分析可以准确给出元素的化学价态。（）

6.不同厂家的XRF仪器分析结果完全相同。（）

7.样品的形状对XRF分析结果无影响。（）

8.XRF分析软件可以随意更改分析参数。（）

9.标准样品的成分越复杂越好。（）

10.XRF分析过程中不会产生任何辐射危害。（）

简答题

1.简述XRF分析中基体效应的含义及影响。

基体效应指样品基体对元素分析信号的影响。它会使分析结果产生偏差，干扰准确测量。不同基体组成和性质不同，对X射线吸收、散射等作用不同，影响特征X射线强度，导致定量分析误差。

2.说明XRF分析中常用的定量分析方法及适用范围。

常用方法有标准曲线法，适用于组成简单、基体效应小的样品；基本参数法，可校正基体效应等，适用范围广；内标法，能减少测量误差，用于多种样品。

3.怎样提高XRF分析中对轻元素的检测灵敏度？

可采用合适激发源，如放射性同位素；优化仪器参数，如调整管压管流