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半导体器件可靠性分析：故障模式分析_（11）.加速寿命测试方法.docx

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    加速寿命测试方法

    引言

    在半导体器件的可靠性分析中，加速寿命测试（AcceleratedLifeTesting,ALT）是一种常用的方法，用于在较短的时间内评估器件的寿命和可靠性。通过在高于正常工作条件的应力下测试器件，可以加快故障的发生，从而更早地发现潜在的问题并进行改进。本节将详细介绍加速寿命测试的基本原理、常用方法以及如何设计和实施这些测试。

    加速寿命测试的基本原理

    加速寿命测试的目的是通过增加应力（如温度、电压、电流等）来加速器件的故障过程，从而在较短的时间内获得关于器件寿命和可靠性的信息。这种测试方法基于以下假设：

    应力与寿命的关系：器件

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