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半导体器件可靠性分析：故障模式分析_（10）.故障检测与诊断技术.docx

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    故障检测与诊断技术

    引言

    故障检测与诊断技术是半导体器件可靠性分析的重要组成部分。通过这些技术，可以及时发现和定位器件的故障模式，从而采取相应的措施进行修复或改进。本节将详细介绍几种常见的故障检测与诊断技术，包括电学测试、光子测试、物理分析和软件仿真方法。

    电学测试

    基本概念

    电学测试是通过测量半导体器件的电学参数来检测其故障的一种方法。这些参数包括电流、电压、电阻、电容等。电学测试可以在不同的测试条件下进行，例如静态测试、动态测试、温度测试等，以全面评估器件的可靠性。

    常见电学测试方法

    静态测试

    静态测试是在器件处于静止状态时进行的测试，主要测量器件的

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