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半导体器件仿真：双极型晶体管仿真_8.双极型晶体管的噪声特性仿真.docx

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    8.双极型晶体管的噪声特性仿真

    8.1噪声特性的基本概念

    在半导体器件仿真中，噪声特性是评估器件性能和可靠性的关键因素之一。双极型晶体管（BipolarJunctionTransistor,BJT）的噪声特性主要来源于基区的热噪声和散粒噪声。热噪声是由于载流子的随机热运动引起的，而散粒噪声则是由于载流子在通过势垒时的统计波动引起的。这两种噪声在低频和高频下都有不同的表现形式，对电路性能有着重要影响。

    8.2噪声源的分类

    8.2.1热噪声

    热噪声（ThermalNoise）是最常见的噪声源，它是由载流子的随机热运动引起的。对于双极型晶体管，

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