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超分辨率显微镜在纳米材料表征中的突破

一、引言：纳米材料表征的挑战与超分辨率显微镜的使命

纳米材料因尺寸介于原子、分子与宏观物质之间，呈现出量子效应、表面效应等独特性质，成为新能源、电子信息、生物医药等领域的核心材料。然而，其性能高度依赖微观结构的精确控制——从纳米颗粒的形貌尺寸，到晶界缺陷的分布，再到多组分材料的界面相互作用，每一个微观特征的细微变化都可能显著影响宏观性能。传统表征技术如扫描电子显微镜（SEM）虽能提供高分辨率形貌，但难以实现活样品的动态观测；透射电子显微镜（TEM）虽分辨率更高，却需真空环境且制样复杂，无法直接观察材料在真实环境中的行为；普通光学显微镜则受限于阿贝衍射极限（