半导体晶圆PL光谱测试系统 8英寸吸片盘 自动扫描台(兼容2寸、4寸、8寸晶圆) 可升级紫外测量模块 翘曲度测量模块 侧面收集模组 说明书.pdf

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半导体晶圆PL光谱测试系统系统

—荧光光谱/荧光寿命/膜厚/翘曲度/反射率

面向半导体晶圆检测的光谱测试系统

荧光测试

太阳电池荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、

薄膜硅片α-Si峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射

复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关

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