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利用4200A-SCS参数分析仪

和四线探头测量半导体材料

的电阻率

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利用4200A-SCS参数分析仪和四线探头测量半导体材料的电阻率应用文档

概述四点共线探针的计算方法

电阻率是材料的一种基本性质,它量化了材料对电流测量半导体材料电阻率最常见的方法是使用四点共线

的阻碍程度;它是电导率的倒数。材料的电阻率取决探针。这种技术包括使四个等间距

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