深度解析(2026)《YST 1287-2018高纯镉化学分析方法 镁、铝、钙、铬、铁、镍、铜、锌、银、锡、锑、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法》.pptxVIP

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  • 2026-01-05 发布于中国
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深度解析(2026)《YST 1287-2018高纯镉化学分析方法 镁、铝、钙、铬、铁、镍、铜、锌、银、锡、锑、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法》.pptx

;;;YS/T1287-2018的制定背景与修订历程:顺应高纯镉产业发展需求;适用于纯度≥99.999%的高纯镉中13种杂质元素测定。核心应用于高纯镉生产企业出厂检验电子材料加工环节质量控制,以及科研机构新材料研发中的成分分析,确保光伏薄膜半导体器件等终端产品性能稳定。;;;;(二)针对高纯镉检测的技术难点:高基体干扰下如何实现痕量杂质精准捕捉;;13种杂质元素的选定依据:为何是这13种元素成为检测重点?;;样品采集与制备的规范要求:从取样到制样的全程质量控制;;ICP-MS仪器的基本参数设置:射频功率雾化气流量等关键参数优化;;;;;;;;

(一)与原子吸收光谱法(AAS)的对比:检测效率与灵敏度的代际差异

AAS一次仅测一种元素,分析13种元素需数小时,而ICP-MS仅需30分钟。AAS检出限多为0.0001%-0.001%,远高于ICP-MS的0.00001%-0.00005%。随着高纯镉纯度提升,AAS已难满足需求,ICP-MS成为主流。

与电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)的对比:在痕量分析领域的独特优势

ICP-OES检出限通常为0.0001%-0.0005%,虽高于AAS,但对0.00001%级别痕量杂质仍无能为力。ICP-MS凭借更高灵敏度,在痕量杂质检测中优势明显,且抗干扰能力更强,更适合高纯镉复杂基体分析。

引领未来趋势的核心因素:多元素同步检测与智能化分析的发展方向

未来高纯材料检测需更快速度更低检出限更多元素同步分析。该标准采用的ICP-MS法契合此趋势,且可与自动进样智能数据分析软件结合,实现检测流程自动化数据处理智能化,推动行业检测技术升级。;;样品溶解不完全的问题:原因分析与溶解条件优化技巧

溶解不完全多因加热温度不足或酸体系不当。可适当提高加热温度(不超过100℃),延长加热时间,或调整硝酸与盐酸比例至3:1。若仍不溶解,可加入少量氢氟酸助溶,但需注意氢氟酸对仪器的腐蚀,后续需除氟。

空白值偏高的常见原因与解决办法:从试剂到环境的污染控制

空白值高可能是试剂纯度不够器皿污染或实验室环境尘埃。需使用优级纯以上试剂超纯水,器皿用硝酸(1+1)浸泡后超纯水冲洗,实验室保持洁净,分析时戴防尘手套,避免样品污染。

检测结果与其他实验室不一致时的处理流程:从样品到方法的比对与溯源

首先核对样品是否为同一样品前处理步骤是否一致,再检查仪器参数和标准溶液是否相同。若仍不一致,可参加实验室间比对或使用标准物质进行溯源,查找差异根源,如仪器校准偏差或操作习惯不同,针对性调整。

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