GE智能平台宣布推出实现最佳性能和灵活性的载卡.pdfVIP

·120·《测控技术2011年第30卷第9期

tRIO控制器及当今业界性能最强大的射大的可靠性，同时支持25w功率等级，

频向量信号分析器之一的NIPXIe-665。大大超出PMC和XMC的规范要求，为性

科技动态LabVIEW2011还支持内置在最新的Mi．能和可靠性提供了双重保障。

crosoft~．NET框架的组件，并且基于用SPR418A拥有大量连接选项，扩展

户的反馈新增了多项新特性。了I／O和使用模式，提高了灵活性。可

研祥新推G41“姐妹花”全长LabVIEW2011使得工程师在多种选的80一pinKEL连接器(类似FPDPVI—

任务下极大地提高效率，包括以下高效TA17)具备J4连接能力。J16可以连接

卡FSC．1815EPI1816

功能：两个SFF连接器，通过备好的电缆实现4

近日，研祥公司未雨绸缪地适时推①快速的程序界面视觉化效果，其道高速串行连接能力。标准Pc电源连

出未来2年后主流全长卡产品FSC一1815时尚的用户界面包括新的控件及显示控接器适合夹层卡独立运行，无需与主机

＆EPI一1816，该对“姐妹花”采用未来2件银色面板；②可重用的代码，包括对最交互。

年后主流芯片组INTELG41。因其价格新的．NET程序组件、．m结构体的支持，

和供货周期的优势，将有长达5年左右以及包含新的XilinxIP库的LabVIEW

泛华恒兴推出最新电子元器件

的产品生命周期。与同行业公司全长卡FPGA模块；③最快可达原先5倍的FP

早期推出的Q35、Q45产品相比，具有高GA代码载入、连线、编辑及编译；④程序老化测试系统

性价比和生命周期长等优势。市场上的可编程建立及部署于目标的可执行文北京泛华恒兴科技有限公司近日推

(331现在正处在计划淘汰的边缘，基于件；⑤新的通信API可大量生成异步线出了电子元器件老化测试系统，该系统

G41的PICMG1．0总线规范全长卡，在程以创建更快的多线程应用。主要用于对探舛设备电路板中多种电子

同行业公司中处于领先地位，且拥有绝LabVIEW2011以其良好的关键任元器件的入厂筛选与检验，其中包括对

对的性价比优势。务应用稳定性和对众多工业界领先硬件电阻、电容、电感等常用元器件的检测。

研祥FSC一1815＆EPI一1816支持的快捷集成能力，赋予了测量和控制系作为专业的电子元器件老化测试系

DDR3内存和SATA硬盘，现DDR2已经统设计者们强大的信心，能够在已有的统，其可在室温至180oC的任意温度点

趋于淘汰，从内存技术发展看，DDR3将设施条件下高效地创新。下，对电子元器件进行功能、电气指标的

是未来的王者。未来1～2年之内，DDR3结合硬件模块后的LabVIEW2011自动化测试，温度测量精度可达0．1℃。

将具有非常强劲的生命力，DDR3替代是实现NI图形化系统设计方法的核心，该测试系统由老化板、老化插座、负载板

DDR2已成为必然趋势。从技术上，FSC一为没计、原型和发布提供了统一的高效及泛华恒兴自主研发的信号路由矩阵组

1815EP1—1816采用的配置将从2011的平台，从基本测量应用到