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【X射线荧光光谱仪】X射线荧光光谱仪的构成与维护使用X射线荧光光谱仪维护和修理保养

X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关部门供应了一种可行的、低成本的并且适时的检测、筛选和掌控有害元素含量的有效途径。

相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、便利、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关部门作为过程掌控和检测使用。

X射线荧光光谱仪的维护保养：

1、X射线荧光光谱仪中最昂贵的部分是高压X射线光管，它是仪器的核心部件。X射线光管对冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其较佳冷却水温为22℃～24℃，一般不能超过30℃，超过35℃则使用寿命会大大降低。

内部循环水用于冷却阳极靶相近的光管头部分，因此要求内部循环水为电导率很低的去离子水（必需保证该冷却水的电导率＜2μs／cm），以防高压击穿导致x射线光管损坏。

2、分光晶体是具有把X射线荧光按波长次序分开成光谱作用的晶体。影响分光晶体稳定性的因素有：温度、湿度、酸碱度等。

3、探测器性能一般用波高分布曲线的半宽高来衡量，若半宽高增大则说明辨别本领下降，检测器品质变坏。

4、真空系统是X射线荧光光谱仪的紧要构成部分。对于真空泵，紧要是应当定期检查真空泵油的油质和油量，检查油质时假如有白色或黑色，就说明油质不正常，应当立刻更换泵油。

X射线荧光光谱仪属于大型分析仪器，它紧要由以下几部分构成：

（1）X射线系统（X射线光管、高压变压器、管压管流掌控单元）；

（2）水循环冷却系统（内外部冷却水单元、温度、电导率掌控监测单元）；

（4）真空系统（真空泵、样品室）；

（5）检测系统（光谱室、分光晶体、衰减器、狭缝、测角仪、晶体交换器等）；

（6）检测记录系统（流〈充〉气正比计数器和闪亮计数器、脉冲高度分析器等）；

（7）数据处理系统。

首先，我们必需注意的是X射线荧光光谱仪对四周环境的要求较高，试验室内要保证恒温、恒湿（22度左右、湿度60%以下），特别是在南方潮湿的天气环境下，更要特别注意。

仪器试验室必需安装空调设备，仪器的使用环境中，不能有酸雾存在，也就是说，XRF仪器不要和化学试验室在同一个房间内。由于X光管和探测器都有用金属铍做的窗口，金属铍很简单被酸腐蚀。其次是试验室要环境清洁，保证电源稳定，避开震动。为了仪器正常运转，仪器还必需有独立地线。

X射线荧光光谱仪的工作原理

X射线荧光分析技术作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业供应了一种可行的、低成本的、并且是适时的，检测、筛选和掌控有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（例如：发射光谱、吸取光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、便利、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程掌控和检测使用。

X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F（9）～U（92）之间全部元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

X射线荧光光谱仪的工作原理：

X射线是用高速电子轰击原子的内层电子，使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大，波长小，肉眼不可见，称之为X射线。

X射线荧光的波长是以受激物质（待测物质）的原子序数为特征的，原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据；而元素受激发射出来的特征X射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。

X射线荧光光谱仪的紧要构成部分是一次X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器。一次X射线源用X光管，它产生的一次X射线轰击样品表面，使样品激发出二次X射线。二次X射线经平行光管变成一束平行光以后，投射到与平行光束呈夹角θ的分光晶体晶面上。射线在分光晶体面上的反射角与平行光束的夹角为2θ。分光晶体在分析过程中是回转的，即θ是连续变化的，θ的变化会使反射光的波长随之变化，故2θ的实在值是定性分析的依据。这种变化波长的反射线投射到与分光晶体联动的检测器上，检测器便输出一个与平面分光晶体反射线强度成比例的信号，它是定量分析的依据。记录显示仪表的记录纸移动的距离与2θ有关，所以记录下来的曲线就是荧光光谱图，其横坐标是波长，纵坐标是光强。分析光谱图就可以得到定性分析和定量分析结果。