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半导体制冷在测压铜柱高低温校准中的应用·153·

半导体制冷在测压铜柱高低温校准中的应用

孙帅飞，子L德仁

(南京理工大学机械工程学院，江苏南京210094)

摘要：测压铜柱在高低温环境下使用时会带来较大的测压误差，必须进行高低温校准。针对当前测压铜

柱高低温静态校准系统中的高低温加载部分使用不便的问题，提出了基于半导体制冷技术对其进行改

进。对高低温箱的结构及温度测控系统进行了设计及研制，并进行了温度控制实验，高低温箱可控制在

一4O一50cc范围内，温度控制精度优于±0．5oC，满足了测压铜柱高低温静态校准的要求。

关键词：测压铜柱；校准；半导体制冷；温度控制

中图分类号：TJ012文献标识码：A文章编号：1000—8829(2014)O1—0153—04

ApplicationofSemiconductorRefrigerationinCopperCylinder

TemperatureCalibration

SUNShuai—fei，KONGDe—ren

(SchoolofMechanicalEngineering，NanjingUniversityofScienceandTechnology，Naming210094，China)

Abstract：Alargerpressuremeasurementerroriscausedwhencoppercylinderusedinhilgh—lowcircumstance

temperature，SOtemperaturecalibrationisnecessary．Sincetheinconvenienceincoppercylinderhigh—lowten—

peraturecalibrationsystem，amethodisproposedbasedonsemiconductorrefrigerationtechnologytosolvethe

problem．Thestructureandcontrolsystemofalocaltenaperatureboxaredesigned．Experimentsshowthattem—

peratureintheboxcanbecontrolledwithin-40—50℃．temperaturecontrollingeffecthasanaccuracyof±

0．5℃．andtherequirementsofstatictemperaturecalibrationaresatisfiedforcoppercylinder．

Keywords：pressure—measuringcoppercylinder；calibration；semiconductorrefrigeration；temperaturecontrol

武器膛压是各类武器系统在设计、研制、设计定型低温下的校准，以得到不同温度下使用时的压力值修

及生产交验几个环节必测的一项参数。塑性测压法具正量。半导体电子制冷是近年来国际上迅速发展的一

有使用方便、操作简单、不需要破坏被试武器以及一致项高新技术，因其具有使用方便、制冷温差范围大、工

性好等优点，所以在各类武器系统的设计定型实验及作稳定、温度控制精确等优点，在军事、医疗、航天以及

生产校验中被广泛采用。塑性测压法是以塑性敏感元日常生活等方面应用得越来越广泛，其既可以制冷又

件——测压铜柱在压力的作用下产生塑性变形量作为可以制热的特点使其非常适合用于测压铜柱高低温校

压力值的量度，一个批次的测压铜柱生产完成后需在准系统中。

不同的压力值进行标定，以确定此批次铜柱的压力值1测压铜柱高低温静态校准系统

与变形量的对应关系，即压力对照表。铜柱的标定