HITACHI日立聚焦离子束-扫描电子双束显微镜NX5000用户手册.pdf

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聚焦离子束-扫描电子双束显微镜的参数及功能介绍

材料制备与表征平台——电子显微镜子平台于2021年3月正式对外开放聚

焦离子束-扫描电子双束显微镜(FIB-SEM)的预约测试服务。

图1NX5000型聚焦离子束-扫描电镜系统

FIB-SEM具有离子光学和电子光学双系统,在FIB-SEM双束系统中,聚焦

离子束和电子束能够优势互补。离子束成型衬度大,但存在损伤样品和分辨率低

的缺点,电子束激发的二次电子成像分辨率高,对样品的损伤小,但衬度低,两

者组合可获得更清晰准确的样品表面信息。聚焦离子束

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