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2026年新版芯片卷带检测机.doc

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    2026年新版芯片卷带检测机

    一、单选题（总共10题，每题2分）

    1.2026年新版芯片卷带检测机主要采用哪种技术进行芯片缺陷检测？

    A.机器视觉技术

    B.热成像技术

    C.激光扫描技术

    D.核磁共振技术

    2.新版芯片卷带检测机在检测过程中，哪种传感器最为常用？

    A.温度传感器

    B.压力传感器

    C.光电传感器

    D.电流传感器

    3.芯片卷带检测机在检测时，通常需要达到的精度是多少？

    A.0.01微米

    B.0.1微米

    C.1微米

    D.10微米

    4.新版芯片卷带检测机中，哪种算法常用于图像处理？

    A.决策树算法

    B.人工神经网络算法

    C.聚类算法

    D.贝叶斯

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