深亚微米ASIC收敛：可测性设计的理论、挑战与实践.docx

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2026-01-08 发布于上海
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深亚微米ASIC收敛：可测性设计的理论、挑战与实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子信息技术飞速发展的时代，集成电路（IntegratedCircuit,IC）作为各类电子设备的核心组成部分，其性能、可靠性和成本直接影响着整个电子系统的质量与竞争力。随着科技的不断进步，集成电路的发展经历了从小规模集成电路（SSI）到中规模集成电路（MSI）、大规模集成电路（LSI）、超大规模集成电路（VLSI），再到如今深亚微米及纳米级集成电路的重大跨越。在这一发展历程中，芯片的集成度呈指数级增长，单个芯片上能够集成的晶体管数量越来越多，这使得芯片的功能愈发强大，同时也带来了一系列严峻的挑战，