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探索X射线光栅相位衬度成像技术：原理、应用与挑战

一、引言

1.1研究背景与意义

自1895年德国物理学家威廉?康拉德?伦琴（WilhelmConradRontgen）发现X射线以来，X射线成像技术凭借其对物体内部结构的独特探测能力，在多个领域迅速发展并得到广泛应用。早期，X射线成像主要基于简单的穿透原理，通过记录X射线穿过物体后的强度变化来获取图像，这种方法在医学领域用于骨骼成像等，使医生能够直观地观察到骨骼的形态和结构，为骨折等疾病的诊断提供了极大的便利。随着技术的不断进步，计算机断层扫描（CT）技术应运而生，它通过对物体进行多角度的X射线扫描，并利用计算机算法