1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

海思芯片ESD--Latch-up-测试技术规范V1.docx

海思芯片ESD--Latch-up-测试技术规范V1.docx

    1. 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
    2. 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
    3. 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
    查看更多

    ESDLatchUp测试技术规范V1.1

    拟制：

    审核：

    批准：

    日期：2019-10-27

    历史版本记录

    版本

    时间

    起草/

    起草/

    内容描述

    审核人

    批准人

    V1.0

    2019-

    10-27

    首次发布

    V1.1

    2019-

    12-04

    修改2.3节Latch-Up测试描述。

    由于当前进芯实际执行方法严于

    JEDEC标准，故将进芯当前实际执

    行的测试方法定义为标准；原

    JESD定义标准放到附录中仅供参

    考。

    V1.3

    2020-

    01-02

    ESD-HBM测试方法由3种删减为

    2种。不再介绍其中一种稍显复杂

    的测试方法，而是介绍测试厂用

    的比较多的方法

    适用范围：

    本规范规

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    chenfang888 + 关注
    实名认证
    内容提供者

    该用户很懒，什么也没介绍

    咨询Ta 进入空间

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >