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采用铜源漏电极的金属氧化物薄膜晶体管
摘要
平板显示技术对半导体器件的性能要求越来越高,薄膜晶体管(TFT)凭借优秀的性能,很适合
应用于液晶显示技术,随着薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产业逐渐走向成熟,TFT技术也得到
了极大的发展。以铜作为TFT源漏电极材料,有着电阻率低、导热性好、刻蚀性好、抗电迁移好等优
点,有着成为TFT源漏电极的潜力,但是铜电极会扩散到半导体层内,使TFT的性能劣化,导致TFT
阈值电压正向漂移,迁移率降低,亚阈值摆幅增大等后果。目前对于铜源漏电极的研究较少,非常值
得我们进一步研究。本论文主要研究采用铜作为源漏电极的铟
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