日立U-4100分光光度计操作与测量功能指南.pdfVIP

日立U‑4100分光光度计操作规程

开启主机，打开电脑电源，点击UV-Solutions工作软件，仪器自检，显示Ready，进行操作。

二、选择测量功能

1、波长扫描

(1)测量参数设置:在主界面中点击【Method】:1从General中选择

Wavelengthscan，在Instrument中选择Abs、波长扫描范围、波长扫描速度、延

时时间设置、测量重复次数等，从Processing设定峰值判定。或者在General中选择

Load导入已有波长扫描方法；2从UseSampleTable中设置样品名及信息。

(2)基线校正:1.将空白池和样品池分别放入样品室（空白池方），点击

【Baseline】选择User1或User2，吸光度将自动校零（基线校正）；2.必要，

使用空气作为参比和样品，选择System进行系统基线校正。

(3)测量:点击【Measure】开始测量，如要终止扫描点击【Stop】。

2、时间扫描

(1)测量参数设置:点击【Method】,在1General中选择Wavelengthscan，在

Instrument中选择Abs、波长扫描范围、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数

等，Processing中设定峰值判定；或者在General中选择Load导入已有的时间扫描方法；

2在UseSampleTable中设置样品名及信息。

(2)基线校正:1.将空白池和样品池分别放入样品室（空白池方），点击

【Baseline】，选择User1或User2，吸光度将自动校零（基线校正）；2.必

要，使用空气作为参比和样品，选择System进行系统基线校正。

(3)测量:点击【Measure】开始测量，如要终止扫描，点击【Stop】。

3、定波长测量

(1)测量参数设置:主界面中点击【Method】,1General中选择Photometry、输入操

作者、Quantitation中选择标样回归方法和浓度回归方式,Instrument中选Abs、

固定波长值、延时时间、测量重复次数等,Processing中设定峰值判定,Standards中设

置样品表;或者General中选Load导入已定波长测量方法;2UseSampleTable中设

置样品名及信息。

(2)基线校正:1将空白池和样品池分别放入样品室，点击【Baseline】选择User1或User2，

吸光度自动校零；2必要，使用空气作为参比和样品，选择System进行系统基线校正。

(3)测量：在主界面点击【Measure】，开始逐一测量样品和被测样品，终止扫

描点击【Stop】，测量完毕后，点击【End】结束测量。

关闭UV‑Solutions工作软件,关闭主机,关闭电脑。

日立U-4100分光光度计操作规程

开主机，开电脑电源，击UV-Solutions工作软件，仪器自检，显示Ready，进行操作。

二、选择测量功能

1、波长扫描

⑴测量参数设置：主界面中击【Method】：①从General中选择Wavelengthscan，

在Instrument中选Abs、波长扫描范围、波长扫描速度、延时时间设置、测量重复次数等，从

Processing设定峰值判定。或者在General中选Load导入已有波长扫描方法；②从Use

SampleTable中设置样品名及信息。

⑵基线校正：①空白池和样品池分别放入样品室（空白池方，击【Baseline】选择

User1或User2，吸光度自动校零（基线校正）；②必要，使用空气作为参比和样品，

选择System进行系统基线校正。

⑶测量：击【Measure】开始测量，如要终止扫描击【Stop】。

2、时间扫描

⑴测量参数设置：击【Method】，①General中选择Wavelengthscan，Instrument中选

Abs、波长扫描范围、波长扫描速度、延时时间设