CN120252599A 基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法 （西安爱德华测量设备股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120252599A(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510752736.2

(22)申请日2025.06.06

GO6N3/08(2023.01)

G06T17/20(2006.01)

GO6F111/04(2020.01)

(71)申请人西安爱德华测量设备股份有限公司

地址710000陕西省西安市高新区锦业路

69号C区22号

(72)发明人李刚井俊鹏

(74)专利代理机构西安泛想力专利代理事务所(普通合伙)61260

专利代理师柳晶

(51)Int.CI.

G01B21/00(2006.01)

G01B11/00(2006.01)

GO6F30/10(2020.01)

GO6F30/27(2020.01)

GO6N3/0464(2023.01)

权利要求书2页说明书8页附图2页

(54)发明名称

基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法

(57)摘要

CN120252599A本发明属于三坐标测量技术领域，具体公开了基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，包括：从非完整点云中分层提取几何特征，将待测工件分为若干个有序曲面；为每个点云数据添加曲面标签，基于曲面标签生成若干个有序点云集合；基于几何特征生成虚拟点以填补缺失区域；基于有序点云集合、虚拟点以及边缘点云重构每个有序曲面的三维子模型；拟合三维子模型生成连续曲面模型，基于连续曲面模型获取工件测量参数。本发明通过提取几何特征、分类点云、生成虚拟点，突破传统方法依赖先验模型的局限，可处理未知或非标几何，通过有序曲面划分、三维

CN120252599A

获取非完整点云数据

获取非完整点云数据

分层提取几何特征，识别平面、柱面、球面、自由曲面，生成有序曲面

点云基于曲面标签分类井生成有序点云集合

填补缺失区域，构建局部厚度-曲率模型，生成虚

拟点

重构三维子模型

全局模型优化

规则曲面施加位置连续约束和法线连续约束

生成连续曲面模型，输出工件测量参数

自由曲面带惩罚项的最小二乘优化

CN120252599A权利要求书1/2页

2

1.基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)获取待测工件的非完整点云，从非完整点云中分层提取几何特征，基于几何特征将待测工件分为若干个有序曲面；

(2)对非完整点云数据进行分类，为每个点云数据添加曲面标签，基于曲面标签生成若干个有序点云集合；

(3)基于几何特征生成虚拟点以填补缺失区域；

(4)基于有序点云集合、虚拟点以及边缘点云重构每个有序曲面的三维子模型；所述边缘点云为不同有序点云集合的相同点云数据；

(5)拟合所述三维子模型生成连续曲面模型，基于连续曲面模型获取工件测量参数。

2.根据权利要求1所述的基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，其特征在于，所述步骤(1)包括：

通过多模态传感器获取待测工件的非完整点云数据，并对所述非完整点云数据进行滤波；

计算点云曲率，筛选曲率低于预设阈值K?的点作为种子点，采用随机采样一致性算法，从种子点中随机选择采样点初始化平面模型，结合密度聚类算法对点云进行分组，识别候选平面区域；

对非平面区域进行法线方向变化率分析，根据变化率特征拟合柱面或球面，采用最小二乘法求解柱面轴线、半径或球面球心、半径；

提取经过平面、柱面、球面特征提取后剩余的点云区域作为自由曲面特征，计算该区域的曲率极值点以识别边缘及过渡区域特征；

基于曲率相似性条件，采用区域生长算法将点云分割为若干曲面片，每个曲面片内的点曲率差值小于预设阈值K?;

提取自由曲面特征，基于曲率相似性通过区域生长算法分割曲面片，按完整层平面普通平面柱面球面自由曲面的优先级排序得到有序曲面。

3.根据权利要求2所述的基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，其特征在于，步骤(1)中所述多模态传感器包括探针式传感器与非接触式传感器，所述非接触式传感器为激光探头或光学探头。

4.根据权利要求1所述的基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，其特征在于，步骤(2)中点云数据分类采用深度学习模型，所述深度学习模型用于对点云数据进行几何特征分类并添加曲面标签。

5.根据权利要求4所述的基于非完整曲面拟合的三坐标测量方法，其特征在于，步骤(2)所述有序点云集合的生成过程为：

对每个有序曲面进行投影，得到与有