CN115494659B 一种液晶面板的检测方法及系统 （北京兆维电子(集团)有限责任公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN115494659B(45)授权公告日2025.07.08

(21)申请号202210955792.2

(22)申请日2022.08.10

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115494659A

(43)申请公布日2022.12.20

(73)专利权人北京兆维电子(集团)有限责任公

司

地址100015北京市朝阳区酒仙桥路14号

(72)发明人张莲莲李伟靳松陈永超陈晨李韦辰

(74)专利代理机构北京轻创知识产权代理有限公司11212

专利代理师朱晓彤

(51)Int.CI.

GO2F1/13(2006.01)

G01N

G01B

G01B

(56)对比文件

21/88(2006.01)

11/00(2006.01)

11/24(2006.01)

CN

CN

CN

CN

CN

113362308

104616275

110927171

111709919

113469171

A,2021.09.07

A,2015.05.13

A,2020.03.27

A,2020.09.25

A,2021.10.01

审查员孙永琦

权利要求书3页说明书7页附图1页

(54)发明名称

一种液晶面板的检测方法及系统

(57)摘要

CN115494659B本发明涉及一种液晶面板的检测方法及系统，检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或/和缺陷检测；其中，边缘检测包括如下步骤：获取待测液晶面板的测量结果图像；提取测量结果图像的感兴趣区域；获取测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点和/或边缘轮廓；根据边缘轮廓测量待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果；和/或，根据边缘轮廓测量待测液晶面板的切割精度，得到切割精度检测结果；和/或，根据角坐标点以及边缘轮廓测量待测液晶面板的倒角精度，得到倒角精度检测结果；输出并存储研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和/

CN115494659B

S1

S1

获取待测液晶面板的测量结果图像

提取所述测量结果图像的感兴趣区域

S3

获取所述测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点

和/或边缘轮廓

S4

根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，

得到研磨精度检测结果；和/或，根据所述边缘轮廓测

量所述待测液晶面板的切割精度，得到切割精度检测结

果；和/或，根据所述角坐标点以及所述边缘轮廓测量

所述待测液晶面板的倒角精度，得到倒角精度检测结果

S5

输出并存储所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测

结果和/或倒角精度检测结果

CN115494659B权利要求书1/3页

2

1.一种液晶面板的检测方法，其特征在于，所述检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或/和缺陷检测；其中，所述边缘检测包括如下步骤：

获取待测液晶面板的测量结果图像；

提取所述测量结果图像的感兴趣区域；

获取所述测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点和/或边缘轮廓；

根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果；和/或，根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的切割精度，得到切割精度检测结果；和/或，根据所述角坐标点以及所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的倒角精度，得到倒角精度检测结果；

输出并存储所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和/或倒角精度检测结果；

根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果，具体包括如下步骤：

基于阈值分割法，获取所述测量结果图像的二值图像；

基于直线拟合法，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓获取所述测量结果图像的二值图像中所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线；

计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间的距离，得到研磨宽度值；

计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间的面积，得到研磨面积值；

计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线所对应的矩形区域的矩形度，得到研磨矩形度值；

计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线之间区域的高度，得到研磨高度值；

其中，所述研磨精度检测结果包括所述研磨宽度值、所述研磨面积值、所述研磨矩形度值以及所述研磨高度值。

2.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述缺陷检测包括如下步

骤：

提取所述测量结果图像中所述待测液晶面板边缘缺陷图像；

通过将所述待测液晶面板边缘缺陷图像与缺陷对比模型进行对比，对所述待测液晶面板边缘缺陷图像进行分类；其中，所述缺陷对比模型为计算机视觉识别模