CN120066903B 一种固态硬盘的健康监测方法及系统 （深圳市威科伟业电子科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN120066903B(45)授权公告日2025.07.08

(21)申请号202510545558.6

(22)申请日2025.04.28

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN120066903A

(43)申请公布日2025.05.30

(73)专利权人深圳市威科伟业电子科技有限公

司

地址518000广东省深圳市宝安区新安街

道大浪社区27区创业二路111号宏发玺玥大厦3803C

(51)Int.CI.

GO6F11/30(2006.01)GO6F3/06(2006.01)

(56)对比文件

CN119739351A,2025.04.01

US5371727A,1994.12.06审查员李艳丽

(72)发明人林乐武付万福黄宣证陈旭

(74)专利代理机构深圳市九州智汇知识产权代理事务所(普通合伙)

441213

专利代理师黄旭辉

权利要求书3页说明书20页附图3页

(54)发明名称

一种固态硬盘的健康监测方法及系统

(57)摘要

CN120099903B本发明涉及硬盘监测技术领域，尤其涉及一种固态硬盘的健康监测方法及系统。所述方法包括以下步骤：对固态硬盘的存储单元进行多维度监测数据采集，生成标准多维监测数据，其中标准多维监测数据包括S.M.A.R.T属性数据、温度传感器数据、编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据；利用供电电压纹波数据对编程擦除延迟数据进行时间戳同步，并根据同步的时间戳对编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据进行电子隧穿电流波形分析，生成电荷阱健康指标数据；提取S.M.A.R.T属性数据的坏块数量。本发明通过多维度数据采集、精准同步、精确退化建模和智

CN120099903B

对固态硬盘的存储单元进行多维度监测数据采集，生成标

对固态硬盘的存储单元进行多维度监测数据采集，生成标

属性数据、温度传感器数据、编程擦除延迟数据及供电电

压纹波数据

利用供电电压纹波数据对编程擦除延迟数据进行时间戳同步，并根据阿步的时间戳对编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据进行电子隧穿电流波形分析，生成电荷阱健康指标数据

提取S.MA.RT属性数据的坏块数量；提取温度传感器数据的历史温度分布；基于坏块数量、历史温度分布以及电荷阱健康指标数据进行多变量退化建模，生成健康评分数

基于预设的健康度闼值对健康评分数据进行异常健康判别,得到异常健康判别结果；根据异常健康判别结果对固态硬盘进行自修复策略决策，生成硬盘自修复决策数据

对硬盘自修复决策数据进行可视化编码，生成用户可读硬盘健康报告

S1

S3

S4

S5

CN120066903B权利要求书1/3页

2

1.一种固态硬盘的健康监测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1:对固态硬盘的存储单元进行多维度监测数据采集，生成标准多维监测数据，其中标准多维监测数据包括S.M.A.R.T属性数据、温度传感器数据、编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据；

步骤S2:利用供电电压纹波数据对编程擦除延迟数据进行时间戳同步，并根据同步的时间戳对编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据进行电子隧穿电流波形分析，生成电荷阱健康指标数据；其中，根据同步的时间戳对编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据进行电子隧穿电流波形分析包括：

根据同步的时间戳对编程擦除延迟数据及供电电压纹波数据进行时序匹配，生成时序匹配数据集，其中时序匹配数据集包括相同时间戳下的编程擦除延迟数据和供电电压纹波数据；

利用供电电压纹波数据，根据电子隧穿方程计算固态硬盘NAND单元的隧穿电流，其中电子隧穿方程的公式如下所示：

式中，Itunnel为隧穿电流，Vpp为编程或擦除时的供电电压，A为NAND单元材料特性相关的常数，B为NAND单元材料特性相关的指数衰减因子；

对隧穿电流进行电流波形超高速模拟，得到瞬态隧穿电流波形；提取瞬态隧穿电流波形的波形上升沿斜率、峰值抖动及电荷积分量作为原始波形特征数据；

根据原始波形特征数据对供电电压纹波数据进行波形偏离度分析，生成波形偏离度数

据；

通过波形偏离度数据对瞬态隧穿电流波形进行电荷阱健康分析，生成电荷阱健康指标数据；

步骤S3:提取S.M.A.R.T属性