深度解析(2026)GBT 17626.39-2023电磁兼容试验和测量技术第39部分：近距离辐射场抗扰度试验.pptxVIP

深度解析(2026)GBT 17626.39-2023电磁兼容试验和测量技术第39部分：近距离辐射场抗扰度试验.pptx

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一、专家深度视角：为何GB/T17626.39-2023将成为智能设备可靠性的关键基石与未来电磁兼容评估的核心范式？

二、追本溯源与前瞻布局：从标准演进脉络窥探近距离辐射场抗扰度试验的必然性及其在未来万物互联时代的关键角色

三、核心技术机理深度剖析：解构近距离辐射场抗扰度试验的本质——是替代远场还是独特评估？专家视角揭示其物理内涵

四、严苛试验等级（LS）与频率范围设定之谜：标准参数背后的科学逻辑与对高密度集成电路的极致挑战

五、试验平台构建全指南：从均匀场域校准（UFA）到测试布置，(2026年)深度解析如何搭建一个符合标准要求的权威性试验环境

六、被测设备（EUT）布置的

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