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基于边缘散焦模型的污点检测算法：原理、应用与优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代工业生产与图像识别技术迅猛发展的时代，污点检测作为保障产品质量与图像信息准确性的关键环节，其重要性愈发凸显。在工业生产领域，无论是精密电子元件的制造，还是高端光学仪器的生产，又或是纺织品、食品等日常用品的加工，产品表面的污点都可能严重影响产品性能、可靠性和美观度。以电子芯片制造为例，微小的污点可能导致芯片短路、信号传输异常等问题，进而影响整个电子产品的质量和稳定性，增加生产成本和售后维修成本。在光学镜头生产中，镜片表面的污点会造成光线散射、成像模糊等问题，降低镜头的光学性能，影响其在摄影、医疗、科研等