CN115170627B 一种质谱成像数据与全视野病理切片的配准方法 （中国药科大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN115170627B(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202210852371.7

(22)申请日2022.07.20

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115170627A

(43)申请公布日2022.10.11

(73)专利权人中国药科大学

地址211198江苏省南京市江宁区龙眠大

道639号

(72)发明人廖俊李彬李桢

(74)专利代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204

专利代理师颜盈静

(51)Int.CI.

GO6T7/33(2017.01)

GO6T7/13(2017.01)

G06T3/02(2024.01)

G06T3/4046(2024.01)

G06T3/4053(2024.01)

(56)对比文件

CN112862872A,2021.05.28

US2018002806A1,2018.01.04审查员郭红

权利要求书3页说明书9页附图3页

(54)发明名称

一种质谱成像数据与全视野病理切片的配

片(WSi)

片(WSi)和相邻切片的基质辅助激光解吸电离质谱成

像(MADU-MS0)

对收集到的WSI和MS1数据进行预处理，对两类图像进行位置和格式的矫正

MADU-MSI

自分拼年卡年

对阻分辨丰深度学习网络进行训练

将预处理后的MSI作为输人。传到训练好的深度学习网络中，输出得到与WS分辨率相近的高分

辨率MS

对经过处理的MS1和WS利用伤射变换进行初步配准

利用移动最小二乘法对初步配准的图像进行二次配准

WS

(57)摘要

CN115170627B本发明公开了一种质谱成像数据与全视野病理切片的配准方法，通过对质谱成像数据进行深度学习插值和利用仿射变换，将基于深度学习的插值方法导入到全视野病理切片(WSI)相关研究中，为全视野病理切片(WSI)数据提供可靠的放大倍率；本发明的配准方法能够在一张图像中呈现形态学特征和化学分布，可以更直接地观察WSI的形态特征和

CN115170627B

CN115170627B权利要求书1/3页

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1.一种质谱成像数据与全视野病理切片的配准方法，其特征在于：包括以下步骤：

获取待测组织学样本的切片，制作得到相应的全视野病理切片和基质辅助激光解吸电离质谱成像图像；所述基质辅助激光解吸电离质谱成像图像是通过对相邻切片进行基质辅助激光解吸电离得到；所述相邻切片为与全视野病理切片相邻的切片；

利用旋转卡壳算法，得到全视野病理切片和基质辅助激光解吸电离质谱成像图像的最小外接矩形；基于最小外接矩形，将全视野病理切片和基质辅助激光解吸电离质谱成像图像进行位置校正，得到校正后的全视野病理切片和校正后的基质辅助激光解吸电离质谱成像图像；

利用Canny边缘算子，对校正后的全视野病理切片的边缘轮廓和校正后的基质辅助激光解吸电离质谱成像图像的边缘轮廓进行提取，得到校正后的全视野病理切片的边缘轮廓和校正后的基质辅助激光解吸电离质谱成像图像的边缘轮廓；

将校正后的基质辅助激光解吸电离质谱成像图像输入至超分辨率深度学习神经网络中，输出与校正后的全视野病理切片分辨率相同的质谱成像图像；

利用仿射变换，将校正后的全视野病理切片和输出的质谱图像进行初次配准，得到初次配准的图像；

利用移动最小二乘法，对初次配准的图像进行二次配准，得到最终的配准图像。

2.根据权利要求1所述的一种质谱成像数据与全视野病理切片的配准方法，其特征在于：所述的获取待测组织学样本的切片，制作得到相应的全视野病理切片和基质辅助激光解吸电离质谱成像图像，具体包括：

将待测组织学样本进行冷冻切片处理，得到多个组织学切片；

从多个组织学切片中选出包括组织学特征的切片，将包括组织学特征的切片进行组织学染色，得到染色后的切片；

通过数字切片扫描系统对染色后的切片进行扫描，得到全视野病理切片图像；

选取与包括组织学特征的切片相邻的组织学切片，记为相邻切片，对相邻切片进行基质辅助激光解吸电离，得到基质辅助激光解吸电离质谱成像图像。

3.根据权利要求1所述的一种质谱成像数据与全视野病理切片的配准方法，其特征在于：所述的基于最小外接矩形，将全视野病理切片和基质辅助激光解吸电离质谱成像图像进行位置校正，得到校正后的全视野病理切片和校正后的基质辅助激光解